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リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEM複合装置 NX9000
FIB-SEM複合装置トリプルビーム®装置 NX2000
高性能集束イオンビーム装置 MI4050
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走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
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ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330
ナノ3D光干渉計測システムVS1800
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アミノ酸分析システム
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HPLCメソッド開発ソフト
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分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
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