世界を変えた FE電子顕微鏡- IEEEマイルストーン認定- 世界を変えた FE電子顕微鏡- IEEEマイルストーン認定-ENGLISH

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世界最高の分解能へ。そこに世界を 変える答えが見えた。

世界最高の分解能へ。そこに世界を 変える答えが見えた。「電界放出形電子顕微鏡の実用化」がIEEEマイルストーンに認定されました。

SU8040

1969年、日立はFE電子源の技術開発に着手。それからわずか3年でFE技術を実用化して、FE-SEM*1の開発に成功。以来、40年以上にわたり日立のFE技術は、高分解能なSEMやTEM*2に採用され、生物、材料、半導体などの幅広い分野で世界の科学や医学、産業の発展に大きく貢献してきたのです。
「見えないものが見える」をキャッチフレーズに、信頼性と操作性で世界中のお客さまから愛用されてきた日立のFE-SEM。いまではFE-SEMといえば「日立」というほど世界中で認められています。その実績は、IEEEマイルストーン認定という形でここに結実。まさにFE電子顕微鏡なら、世界を変える答えが見えるといっても過言ではありません。

*1 FE-SEM:Field Emission-Scanning Electron Microscope(電界放出形走査電子顕微鏡)
*2 TEM:Transmission Electron Microscope(透過電子顕微鏡)


FE電子源の安定化に成功

FEとは電界放出を意味し、先端が針状の陰極(電子放出素子)に強い電界を加えると高密度の電子が放出される現象です。

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電界放出形陰極
IEEEマイルストーンとは

IEEEマイルストーンは、IEEEが産業の発展に貢献した歴史的な偉業を認定し表彰する制度です。

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IEEEマイルストーン認定銘板