11月16日より国際ファッションセンター(東京都墨田区)で開催される「第40回 ナノテスティングシンポジウム」にて下記講演を実施いたします。
奮ってご参加くださいますようお願い申し上げます。
2020年11月16日（月）-18日（水）
ナノテスティング学会
| 日時 | 2020年11月16日（月）16:17-16:25 |
|---|---|
| 演題 | 高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000シリーズ - Ethos NX5100/Ethos NX5200 のご紹介 - |
| 演者 | 鈴木将人(a), 山本 洋(a), 廣瀬菜緒子(a), 清原正寛(a), 鈴木浩之(a), 杉山安彦(a), 麻畑達也(a), 神谷知里(b) (a) 日立ハイテクサイエンス BT設計部, (b) 日立ハイテク 解析システム設計部 |
| 関連製品 | 高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000 |
| 日時 | 2020年11月17日（火）10:50-11:15 |
|---|---|
| 演題 | FIB-SEMを用いた自動化技術の検討 |
| 演者 | 相澤由花(a), 佐藤高広(a), 森川晃成(a), 鈴木将人(b), 富松 聡(b) (a)日立ハイテク 解析ソリューション開発部, (b) 日立ハイテクサイエンス BT設計部 |
| 関連製品 | 集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM） |
| 日時 | 2020年11月17日（火）11:15-11:40 |
|---|---|
| 演題 | ペルチェ式冷却ステージシステムによるTEM解析用試料作製 |
| 演者 | 酉川翔太, 岩堀敏行, 麻畑達也 (日立ハイテクサイエンス BT設計部) |
| 関連製品 | 透過電子顕微鏡（TEM/STEM） |
