【WEB開催】第40回材料解析テクノフォーラム
例年ご好評いただいております「材料解析テクノフォーラム」を開催いたします。材料開発・品質管理における電子顕微鏡など解析・分析機器の最新情報をお届けします。皆さまのご参加をお待ち申し上げております。
開催概要
| 日時 | 2025年7月22日（火）13:00～15:45 |
|---|---|
| 会場 | Webセミナー（ライブ配信） |
| 参加費 | 無料 |
| 定員 | 400名（先着順） |
お申し込み
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
プログラム
| 時刻（時間） | 講演内容 |
|---|---|
| 13:00~13:05（5分） | 開会のご挨拶・操作説明 |
| 13:05～13:55（50分） | 【基調講演】電子顕微鏡観察の自動化を活用したCNT機能性材料の開発 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 森本 崇宏様 カーボンナノチューブ（CNT）はナノスケールの繊維状物質であり、それらの物理構造・化学状態を高度に制御する事で、様々な機能を有する部材・デバイスの開発が進んでいる。本講演では、材料開発や評価技術開発の具体例と共に、ナノ材料評価で中心となる電子顕微鏡の自動化の活用例について紹介する。 |
| 13:55～14:25（30分） | 高分解能FE-SEM SU8600/8700の新機能 -多様な材料解析手法とオートメーション技術のご紹介- 株式会社日立ハイテク 高分解能FE-SEM SU8600/SU8700の材料解析やオートメーションに関する技術が更に進化しました。本発表では、新規開発した全固体電池用ホルダーを用いたオペランド評価の事例、および自動化支援ソフトEMフロークリエータの新機能を用いたオートメーション技術と解析事例についてご紹介します。 |
| 14:25～14:40（15分） | 休憩 |
| 14:40～15:00（20分） | イオンミリングとFIBの組み合わせによる大面積・高位置精度断面加工 株式会社日立ハイテク FIBは高い位置精度で断面作製が可能ですが、単体での実用的な加工幅は100 µm程度です。FIBを用いた解析の応用範囲を拡大するため、イオンミリング装置 ArBlade 5000とFIB-SEM NX5000を組み合わせ、大面積かつ高位置精度の断面作製手法を開発しました。本発表では、FIB単体では作製が困難な横幅300 µm以上、深さ200 µm以上の断面作製例を紹介します。 |
| 15:00～15:20（20分） | AFMによるナノ材料の局所物性測定の最前線 株式会社日立ハイテク 近年、CNTをはじめとするナノ材料は様々な電子デバイスに用いられています。動作メカニズムの解明やデバイス高性能化のために局所物性測定が求められており、表面形状と機械・電磁気物性の同時測定が可能なAFMが活用されています。本講演では、先端材料のAFM物性測定例やSEMとの相関解析事例をご紹介します。 |
| 15:20～15:40（20分） | 計測装置×Process Informatics ～データ駆動型スケールアップによる量産立ち上げLTとロスコストの削減～ 株式会社日立ハイテク 材料や製品への要求が複雑多様化する中で、研究開発や量産に向けたスケールアップに必要な期間やコストの削減は喫緊の課題となっています。 本講演では、上記課題の解決に向けた、計測装置とAI技術を組み合わせたソリューションについて、リチウムイオン電池における事例と合わせて紹介します。 |
| 15:40～15:45（5分） | 閉会のご挨拶 |
* プログラムは予告なく変更になる場合があります。あらかじめご了承ください。
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お問い合せ
株式会社 日立ハイテク
コアテクノロジー＆ソリューション事業統括本部 グローバル営業戦略部
担当 中林・山村
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