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金属材料の元素分析の際に元素判別で悩んでいる方へのご提案

ICP発光分光分析装置(以下ICP-OES)での測定において

  • 金属材料の元素測定の際に、元素の含有・非含有を判別しにくい。
  • 主成分のピークに埋もれ微量成分のピークの有無の判断が難しい。

といったお悩みを抱えてはいませんか?
波長分解能(半値幅)世界最高水準の0.003 nmを実現した、日立ハイテクアナリシスのICP-OES PS3520UVDDIIは、その特長を活かし、金属材料の元素判別に威力を発揮します。
本ページでは、特に元素の判別が困難な金属材料などの分析事例をご紹介します。

高分解能ICP発光分光分析装置 PS3500DDIIによる金属材料の測定事例

本ページでは、特に元素の判別が困難な金属材料などの分析事例をご紹介します。

図1 404 nmにおける分解能(半値幅)

図1 404 nmにおける分解能(半値幅)



PS3520DDの光学系を見直し、感度を維持しつつ高分解能化
→3 pm@313 nmの分解能(半値幅)を実現しました。

シーケンシャル型ICP-OES(PS3500DDII)
マルチチャンネル型ICP-OES

図2 シーケンシャル型ICP-OESとマルチチャンネル型ICP-OESの分解能比較
(Feマトリックス中のDyのプロファイル)

図3 CeO₂  10 g/L 中のLaのプロファイル

図3 CeO₂ 10 g/L 中のLaのプロファイル

図4 Fe 10 g/Lと Zr 0.5 mg/Lのプロファイル

図4 Fe 10 g/Lと Zr 0.5 mg/Lのプロファイル

図5 Mo 10 g/Lと P 1 mg/Lのプロファイル

図5 Mo 10 g/Lと P 1 mg/Lのプロファイル

図6 CeO₂

図6 CeO₂ 1 g/L中のSm 1 mg/Lのプロファイル


PS3520DDⅡは、分光干渉の大きい希土類中の希土などの高分解能が必要とされる材料分析において、世界最高水準(3 pm)の分解能により、共存物質由来の分光干渉を最小限に抑制可能です。