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日立ハイテク
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高分解能ICP発光分光分析装置 PS3500DDIIシリーズ

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PS3500DDIIシリーズは、世界最高水準の0.003nmの分解能で、主成分と微量成分をしっかり分離するので、ピークの有無を簡単に判別できます。
さらに、真空紫外領域(130~185nm)を活用することで、主成分ピークの干渉を回避し、目的元素を精確に分析できます。
特に金属材料中の成分分析、微量元素分析に適しています。

取扱会社:株式会社 日立ハイテクアナリシス

特長

PS3500DDIIシリーズでは、波長分解能8pmでは主成分の発光線が測定元素と近接し、ピーク判別や定量が難しい場合でも、波長分解能3pmという高分解能な分光器を用いることでピークを分離し、精確な測定が可能となります。

高分解能が求められる試料

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純水の広域プロファイル

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鉄10g/Lの広域プロファイル

金属材料には複数の成分や添加剤、微量成分を含みます。この様な試料をICP-OESで測定した場合、多くのスペクトルが現れ(右図)、分光干渉が生じます。特に微量成分を分析する場合には、それらのピークに埋もれて含有判定が難しくなります。波長分解能3pmを有するPS3500DDIIは、一つ一つのピークを確実に分離し、金属材料の元素判定に威力を発揮します。

In 230nmのプロファイル比較

波長分解能8pmの装置では一つのピークであったものが、波長分解能3pmのPS3500DDIIを用いることで、3つのピークに分離し本来のスペクトルを確認することができます。

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波長分解能 8pm*

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波長分解能 3pm*

* 波長分解能:FWHM(半値幅)
1pm = 0.001nm

真空紫外の波長を利用することで、測定波長範囲が160nm以上の装置では測定ができなかった塩素や臭素が測定可能となります。測定元素が干渉を受けて分析が難しい試料でも真空紫外の波長を用いることで、干渉を回避し測定が可能となる場合があります。また、真空紫外の波長を用いることで、180nm以上の波長に比べ感度が向上する波長もあり、干渉の多い材料分析に有効です。

真空紫外領域(VUV)波長測定(PS3520UVDDII)

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160nm以下に発光波長を有する元素

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PS3500DDIIシリーズでは、これらの間接駆動機構を一切排除し、高精度・高分解能モーターによって回折格子を直接駆動する「ダイレクトドライブ機構」を採用しています。これにより、無駄な機械動作を排除し、高速かつ高精度な波長駆動を実現しました。
さらに、回折格子とモータを直結することで熱膨張の影響を受けにくく、安定した測定性能を維持します。また、回折格子の回転制限をなくすことで広範囲の波長駆動が可能となり、測定波長範囲の拡大にも寄与しています。
これらの特長により、PS3500DDIIシリーズは測定時間の大幅な短縮と、高スループットかつ高精度な分析を両立します。

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高速・インテリジェント定性分析

ダイレクトドライブ機構を採用することでマルチ型ICPに迫る分析スピードと高い分解能を合わせることで、高性能な高速定性分析を実現しています。ダイレクトドライブの搭載で従来機(SPS3500 シリーズ)の1/10の時間で波長駆動させることができます。

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  • 全元素(73元素)の定性分析が約1分で可能です。*
  • 自動モードではプロファイルの形状をソフトが認識、分光干渉の有無を自動に判断し、波長判定と半定量値の演算を行います。

* 2分光器タイプを用いて1元素 1波長で測定した場合

ICP-OES(ICP発光分光分析装置)と自動分注機を連動させることで、溶液調製から測定までの分析工程を自動化できます。PS3500DDⅡシリーズソフトウェアに希釈条件を設定するだけで、自動希釈から測定までをシームレスに実施できます。
前処理作業の負荷軽減と測定者の拘束時間削減に加え、作業者によるばらつきを抑えた高い再現性と安定した分析品質を実現します。さらに、省人化と業務効率化を両立し、分析現場の生産性向上に貢献します。

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仕様

型式名 PS3510DDII PS3510VDDII PS3520DDII PS3520VDDII PS3520UVDDII
分光器数 1ch 1ch 2ch 2ch 2ch
分光器内雰囲気 パージ 真空 パージ 真空 真空
マウント方式 ツェルニターナ
波長範囲 160~850nm 130~850nm

高周波プラズマ発生部

周波数 27.12MHz
最大出力 1.6kW

オプション

動画

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(1分09秒)

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