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送変電

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

金型管理サービス

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金型管理サービス

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含有化学物質管理サービス 【当社サービス名称:「chemNEXT」】

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含有化学物質管理サービス 【当社サービス名称:「chemNEXT」】

含有化学物質管理サービス 【当社サービス名称:「chemNEXT」】の紹介ページです。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

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製造実行系システム

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製造実行系システム

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

パネル計器

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パネル計器

パネル計器の紹介ページです。

総合計装システム EX-N01A

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総合計装システム EX-N01A

日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それが「EX-N01A」です。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

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分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)の紹介ページです。

可搬型OES PMI-MASTERシリーズ

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可搬型OES PMI-MASTERシリーズ

可搬型のOES(発光分光分析)装置です。LiやCなど、Al合金やスチールにおいて重要な元素でありながら従来の測定方法では定量が難しかった元素の測定を、モバイル装置で実現しました。従来では測定の難しかった工場内の設備など、PMI(Positive Material Identification)や品質管理の現場に最適な分析装置です。

ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ

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ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ

ハンドヘルドタイプのLIBS(レーザー誘起ブレークダウン法)装置です。圧倒的な分析速度に加え、アルミニウムなどの軽元素に強いため、日々におけるサンプルの大量測定に最適な分析手法です。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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