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電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

含有化学物質管理サービス 【当社サービス名称:「chemNEXT」】

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含有化学物質管理サービス 【当社サービス名称:「chemNEXT」】

含有化学物質管理サービス 【当社サービス名称:「chemNEXT」】の紹介ページです。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

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製造実行系システム

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製造実行系システム

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

監視・制御システム

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監視・制御システム

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パネル計器

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パネル計器

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

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分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)の紹介ページです。

オートビュレット UCB-3000

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オートビュレット UCB-3000

見やすいカラータッチパネルや片手での精密分注など、多彩な機能で手動による滴定を支援します。

可搬型OES PMI-MASTERシリーズ

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可搬型OES PMI-MASTERシリーズ

可搬型のOES(発光分光分析)装置です。LiやCなど、Al合金やスチールにおいて重要な元素でありながら従来の測定方法では定量が難しかった元素の測定を、モバイル装置で実現しました。従来では測定の難しかった工場内の設備など、PMI(Positive Material Identification)や品質管理の現場に最適な分析装置です。

ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ

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ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ

ハンドヘルドタイプのLIBS(レーザー誘起ブレークダウン法)装置です。圧倒的な分析速度に加え、アルミニウムなどの軽元素に強いため、日々におけるサンプルの大量測定に最適な分析手法です。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。

水銀測定装置 HG-400/450シリーズ

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水銀測定装置 HG-400/450シリーズ

HG-400/450シリーズは、新設計の光学系と測定流路の最適化により、高感度な測定と4種類の検液量への対応を可能にした水銀測定装置です。また、搭載の検量線作成、ファイル作成、および再計算機能を、さらに拡張・充実して、より使いやすさを追求しました。 本シリーズは、大型のカラータッチパネルを備えたメインコントロールユニットで構成するHG-400シリーズと、専用のソフトウェアによるパソコンを構成したHG-450シリーズを基本に、豊富なバリエーションをラインアップしています。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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