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Hitachi

日立高新技术在中国

2018年1月26日

UH4150紫外分光光度计
UH4150紫外分光光度计

  紫外/可见/近红外分光光度计UH4150自问世以来,以其性能之高、应用之广、发展之快,受到业界专业人士的极高重视与关注。为满足客户的更高要求,提供更加智能、省时的解决方案,三款UH4150搭配的自动检测系统:自动角度可变检测系统、自动偏振检测系统、自动X-Y样品台检测系统,通过全自动化测样,大幅优化测量数据的重现性,同时缩短测量时间,提高作业效率。目前,三款自动检测系统已正式面向中国市场开售。

系统
系统 示意图 特点
自动偏振检测系统 自动偏振检测系统
  • 正交位置检测功能:以0.01°为最小步进值,自动检测最低透射率的正交状态,使测定结果重现性更加优异。
  • 色度分析功能:可计算出色彩(X、Y、Z)、L*,a*,b*、L,a,b、L*,u*,v*、色度坐标x,y、偏光率。
  • 内置消偏振器,可降低仪器与光源自带的偏振效应,减小系统误差。
自动角度可变检测系统 自动角度可变检测系统
  • 可连续自动测定任意设置条件(偏振器角度、入射开始/结束角度、角度移动间隔)的透射、漫透射、反射以及漫反射光谱。
  • 可自动检测绝对反射率(5°~60°)
  • 每个样品¹)的作业时间可缩短约96%。
注1)5~70°(每步进5°)、波长300~800 nm、反射光谱共测定28次(S、P偏振光)时
自动X-Y样品台检测系统 自动角度可变检测系统
  • 可自动检测入射角为5°的相对反射光谱和入射角为0°的透射光谱。
  • 可连续测定预设样品点位。
  • 可节省装样时间,大幅提高作业效率²)。
注2)测定25个点位时,人工操作时间缩短了92%。