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我们在此向您介绍许多有关分析方法及使用我们的聚焦离子束系统 (FIB/FIB-SEM)获得的相应结果数据。
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HTD-FIB-E040 FIB-SEM的“提样功能” 下载
HTD-FIB-E041 3D NAND样品的自动连续微加工提样功能 下载
HTD-FIB-E042 采用晶圆缺陷坐标进行FIB自动加工及SEM观察 下载
HTD-FIB-E043 采用晶圆缺陷坐标进行FIB加工及SEM观察 下载
HTD-FIB-E044 FIB加工采用低加速电压和采用Ar离子处理后的损伤层对比 下载
HTD-FIB-E045 Ar离子加工消除多晶金属表层的氧化层 下载
HTD-FIB-E047 “自动微加工”与“自动减薄”功能连用 下载
HTD-FIB-E048 “自动微加工”的稳定性 下载
HTD-FIB-E063 “自动微加工”系统进行平面TEM样品制备介绍 下载
HTD-FIB-E072 Ar离子和Xe离子对Si样品的溅射产额对比 下载
HTD-FIB-E081 利用Ar离子束消除Ga离子加工引入的Ga注入损伤 下载
HTD-FIB-E039 Ar离子处理和电解抛光铁TEM样品的对比 下载
HTD-FIB-E046 荷电样品的“自动微加工”处理 下载
HTD-FIB-E049 自动加工与手动加工时间对比 下载
HTD-FIB-E058 FIB低加速电压加工与Xe离子加工损伤层的对比 下载
HTD-SEM-E113 硬质合金钻头的款范围断面离子束加工 下载
HTD-SEM-E115 使用TKD方法测量3D NAND闪存的晶体取向 下载
HTD-FIB-E053 Ethos NX5000 SEM观察燃料电池催化剂 下载
HTD-FIB-E054 Ethos NX5000 SEM观察石棉样品 下载
HTD-FIB-E055 Ethos NX5000 SEM观察多层碳纳米管 下载
HTD-FIB-E056 Ethos NX5000 SEM观察焊接链接界面 下载
HTD-FIB-E057 Ethos NX5000 SEM观察SRAM结构(FF模式与HR模式对比) 下载
HTD-FIB-E065 10 nm FinFET FIB 分段处理与SEM观察 下载
HTD-FIB-E066 64层 3D NAND平面透射样品制备 下载
HTD-FIB-E067 InP冷冻FIB处理及截面SEM观察 下载
HTD-FIB-E069 高分辨模式"cut&see"观察处理10 nm 节点 FinFET 器件 下载
HTD-FIB-E070 Al合金结构中Cu析出相的三维重构 下载
HTD-FIB-E076 AFM和FIB-SEM连用用于腐蚀的Al合金分析 下载
HTD-FIB-E073 64 层 3D NAND截面透射样品制备 下载
HTD-FIB-E078 基于侧插样品杆系统的FIB与TEM在陶瓷电容连用的应用 下载
HTD-FIB-E080 14nm SRAM的FinFET的FIB加工及TEM观察 下载
HTD-FIB-E082 SiC-金刚石复合物界面FIB加工及观察 下载
HTD-FIB-E083 半导体器件透射样品加工及TEM观察 下载
HTD-FIB-E085 离子研磨仪器与FIB连用用于大范围截面样品加工 下载
HTD-FIB-E086 三束系统用于提高多层陶瓷电容的通道衬度 下载
HTD-FIB-E004 低损伤金属材料TEM样品制备-NX2000 下载
HTD-FIB-E006 利用NX2000制备高质量的Al2O3的TEM样品 下载
HTD-FIB-E007 利用NX2000制备低损伤的Al盘TEM样品 下载
HTD-FIB-E010 利用三束系统制备氮基半导体TEM样品 下载
HTD-FIB-E011 3D NAND闪存器件的3维重构 下载
HTD-FIB-E012 利用NX2000制备高质量的多GaN/InGaN量子阱的TEM样品 下载
HTD-FIB-E013 利用氙离子加工氮基半导体TEM样品 下载
HTD-FIB-E017 NX2000的“程序加工”及“连续自动加工”介绍 下载
HTD-FIB-E018 NX2000利用双倾系统制备3D NAND闪存TEM样品 下载
HTD-FIB-E019 硅及半导体FINFET的低损伤TEM样品制备-NX2000 下载
HTD-FIB-E020 NX2000的背切介绍 下载
HTD-FIB-E022 180°旋转样品控制,有效减小窗帘效应 下载
HTD-FIB-E023 NX2000观测SiC半导体中的掺杂衬度 下载
HTD-FIB-E027 SiC-MOSFET半导体器件的EDX分析 下载
HTD-FIB-E028 GaN样品FIB加工损伤对比 下载
HTD-FIB-E029 采用三束系统制备高质量的InGaN/GaN TEM样品 下载
HTD-FIB-E033 采用三束系统制备高质量的不锈铸钢 TEM样品 下载
HTD-FIB-E034 单晶铁损伤层的观测 下载
HTD-FIB-E035 采用三束系统制备高质量的InGaN/GaN TEM样品 下载
HTD-FIB-E037 NX2000的“自动微加工”功能 下载
NX2000 NX2000三束在单晶铁与单晶硅透射电镜样品制备中的应用 下载

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