应用：聚焦离子束系统 (FIB/FIB-SEM)

我们在此向您介绍许多有关分析方法及使用我们的聚焦离子束系统 (FIB/FIB-SEM)获得的相应结果数据。
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HTD-FIB-E040	FIB-SEM的“提样功能”	下载
HTD-FIB-E041	3D NAND样品的自动连续微加工提样功能	下载
HTD-FIB-E042	采用晶圆缺陷坐标进行FIB自动加工及SEM观察	下载
HTD-FIB-E043	采用晶圆缺陷坐标进行FIB加工及SEM观察	下载
HTD-FIB-E044	FIB加工采用低加速电压和采用Ar离子处理后的损伤层对比	下载
HTD-FIB-E045	Ar离子加工消除多晶金属表层的氧化层	下载
HTD-FIB-E047	“自动微加工”与“自动减薄”功能连用	下载
HTD-FIB-E048	“自动微加工”的稳定性	下载
HTD-FIB-E063	“自动微加工”系统进行平面TEM样品制备介绍	下载
HTD-FIB-E072	Ar离子和Xe离子对Si样品的溅射产额对比	下载
HTD-FIB-E081	利用Ar离子束消除Ga离子加工引入的Ga注入损伤	下载
HTD-FIB-E039	Ar离子处理和电解抛光铁TEM样品的对比	下载
HTD-FIB-E046	荷电样品的“自动微加工”处理	下载
HTD-FIB-E049	自动加工与手动加工时间对比	下载
HTD-FIB-E058	FIB低加速电压加工与Xe离子加工损伤层的对比	下载
HTD-SEM-E113	硬质合金钻头的款范围断面离子束加工	下载
HTD-SEM-E115	使用TKD方法测量3D NAND闪存的晶体取向	下载
HTD-FIB-E053	Ethos NX5000 SEM观察燃料电池催化剂	下载
HTD-FIB-E054	Ethos NX5000 SEM观察石棉样品	下载
HTD-FIB-E055	Ethos NX5000 SEM观察多层碳纳米管	下载
HTD-FIB-E056	Ethos NX5000 SEM观察焊接链接界面	下载
HTD-FIB-E057	Ethos NX5000 SEM观察SRAM结构（FF模式与HR模式对比）	下载
HTD-FIB-E065	10 nm FinFET FIB 分段处理与SEM观察	下载
HTD-FIB-E066	64层 3D NAND平面透射样品制备	下载
HTD-FIB-E067	InP冷冻FIB处理及截面SEM观察	下载
HTD-FIB-E069	高分辨模式"cut&see"观察处理10 nm 节点 FinFET 器件	下载
HTD-FIB-E070	Al合金结构中Cu析出相的三维重构	下载
HTD-FIB-E076	AFM和FIB-SEM连用用于腐蚀的Al合金分析	下载
HTD-FIB-E073	64 层 3D NAND截面透射样品制备	下载
HTD-FIB-E078	基于侧插样品杆系统的FIB与TEM在陶瓷电容连用的应用	下载
HTD-FIB-E080	14nm SRAM的FinFET的FIB加工及TEM观察	下载
HTD-FIB-E082	SiC-金刚石复合物界面FIB加工及观察	下载
HTD-FIB-E083	半导体器件透射样品加工及TEM观察	下载
HTD-FIB-E085	离子研磨仪器与FIB连用用于大范围截面样品加工	下载
HTD-FIB-E086	三束系统用于提高多层陶瓷电容的通道衬度	下载
HTD-FIB-E004	低损伤金属材料TEM样品制备-NX2000	下载
HTD-FIB-E006	利用NX2000制备高质量的Al2O3的TEM样品	下载
HTD-FIB-E007	利用NX2000制备低损伤的Al盘TEM样品	下载
HTD-FIB-E010	利用三束系统制备氮基半导体TEM样品	下载
HTD-FIB-E011	3D NAND闪存器件的3维重构	下载
HTD-FIB-E012	利用NX2000制备高质量的多GaN/InGaN量子阱的TEM样品	下载
HTD-FIB-E013	利用氙离子加工氮基半导体TEM样品	下载
HTD-FIB-E017	NX2000的“程序加工”及“连续自动加工”介绍	下载
HTD-FIB-E018	NX2000利用双倾系统制备3D NAND闪存TEM样品	下载
HTD-FIB-E019	硅及半导体FINFET的低损伤TEM样品制备-NX2000	下载
HTD-FIB-E020	NX2000的背切介绍	下载
HTD-FIB-E022	180°旋转样品控制，有效减小窗帘效应	下载
HTD-FIB-E023	NX2000观测SiC半导体中的掺杂衬度	下载
HTD-FIB-E027	SiC-MOSFET半导体器件的EDX分析	下载
HTD-FIB-E028	GaN样品FIB加工损伤对比	下载
HTD-FIB-E029	采用三束系统制备高质量的InGaN/GaN TEM样品	下载
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HTD-FIB-E035	采用三束系统制备高质量的InGaN/GaN TEM样品	下载
HTD-FIB-E037	NX2000的“自动微加工”功能	下载
NX2000	NX2000三束在单晶铁与单晶硅透射电镜样品制备中的应用	下载