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产品
- 全部
- 显微镜
- 分析装置
- 异物检测装置
- 数据利用与AI
-
显微镜研发
超高分辨场发射
扫描电子显微镜 SU8600 -
分析装置研发
差示扫描量热仪（DSC）
NEXTA DSC系列 -
显微镜研发
全自动扫描探针显微镜
AFM5500MⅡ -
分析装置研发
同步热分析仪（TG-DSC）
NEXTA STA系列 -
显微镜研发
高精度实时三维分析
FIB-SEM三束系统 NX9000 -
显微镜研发
高性能FIB-SEM系统
Ethos NX5000 -
显微镜研发
超高分辨肖特基场发射
扫描电子显微镜 SU8700 -
数据利用与AI研发
Chemicals Informatics -
分析装置研发
原子吸收光谱仪
ZA4000系列 -
显微镜研发
球差场发射透射电子显微镜 HF5000 -
显微镜研发
离子研磨仪 ArBlade 5000 -
异物检测装置制造
X射线线内异物检测系统 -
显微镜品质管理
扫描电子显微镜
SU3800/SU3900 -
显微镜品质管理
扫描电子显微镜
FlexSEM1000Ⅱ -
异物检测装置品质管理
X射线异物分析仪
EA8000A -
显微镜品质管理
台式扫描电子显微镜
TM4000PlusIII/TM4000III -
显微镜品质管理
高分辨热场发射扫描电镜
SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus