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アスファルト

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

フィールド機器・分析計の紹介ページです。

製造実行系システム

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製造実行系システム

製造実行系システムの紹介ページです。

プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

パネル計器

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パネル計器

パネル計器の紹介ページです。

総合計装システム EX-N01A

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総合計装システム EX-N01A

日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それが「EX-N01A」です。

コンパクト計装システム PD-N01

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コンパクト計装システム PD-N01

日立コンパクト計装システム「PD-N01」は、プログラマブルコントローラ(PLC)に分散型制御システム(DCS)の演算モジュールを実装することで、温度・流量・圧力制御など高度で複雑なアナログ制御を可能とした新発想の計装システムです。 DCSの優位点である強力なアナログ制御機能や充実した監視制御ソフト群、ソフトウェア資産の継承性などはそのまま活かし、ハードウェアの入手容易性などを融合してコンパクト化を図った新しいコンセプトの計装システムです。

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

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検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)の紹介ページです。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

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ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

ナノフォトン社が開発した、高速、高画質のレーザーラマン顕微鏡 RAMANtouchは、最先端の光学技術を取り入れた分光器と光学素子を搭載し、空間分解能と感度をさらに向上させました。あらゆるアプリケーションで高いパフォーマンスを発揮します。

広視野ラマンスコープ RAMAN view

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広視野ラマンスコープ RAMAN view

広視野ラマンスコープ RAMANviewは、ラマンイメージングの適用範囲を大きく広げました。 実体顕微鏡で使われる広視野対物レンズに最適化した光学系を搭載。最大 2.5cm 角の範囲をラマンイメージングすることができます。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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