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電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

防爆タブレットPC

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防爆タブレットPC

国内防爆検定取得(Zone2)、防塵・防滴構造(IP65) LTE対応でデータ通信が可能 画面に水滴がついた状態や手袋をつけたままでもタッチ操作可能

プロセスガスモニタ CP-1000

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プロセスガスモニタ CP-1000

ガス中の極微量有害成分や素材表面の微量付着成分など高速・高感度に計測します。

ダイオキシン前駆体モニタ CP-2000/PCBモニタ CP-2000P

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ダイオキシン前駆体モニタ CP-2000/PCBモニタ CP-2000P

ごみ焼却場での排ガスに含まれるクロロフェノール、クロロベンゼンの濃度を、またPCB分解処理設備でのPCB濃度を連続的に測定・監視します。

生産管理ソリューション

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生産管理ソリューション

生産管理ソリューションの紹介ページです。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

高精細アライメント

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高精細アライメント

高精細アライメントの紹介ページです。

超音波映像装置 FineSAT III

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超音波映像装置 FineSAT III

超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。

パワーデバイス検査装置

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パワーデバイス検査装置

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電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

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電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

電子スキャン(=フェーズドアレイ方式)で最大周波数75MHzを実現した超音波映像装置です。

卓上X線検査装置

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卓上X線検査装置

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自動X線ウエハバンプ検査装置

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自動X線ウエハバンプ検査装置

自動X線ウエハバンプ検査装置の紹介ページです。

超音波映像装置

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超音波映像装置

3Dウエハ、MEMSウェハ用途の非破壊検査装置 試作品の接合界面評価から量産品の全数検査まで

計測装置・検査装置

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計測装置・検査装置

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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