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電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

TEM/SEM試料前処理装置

TEM/SEM試料前処理装置:イオンミリング装置、イオンスパッタ、サンプルクリーナー、ミクロトーム、包埋試料研磨装置等を紹介します。

製品一覧

イオンミリング装置 ArBlade® 5000

ArBlade5000は、クラス最速の断面ミリングレート1 mm/hを達成した日立イオンミリング装置の最上位機種です。高スループット断面ミリングによって、電子顕微鏡用の断面試料作製がさらに身近になりました。

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イオンミリング装置 IM4000PLUS

IM4000PLUSは、断面ミリングと平面ミリング(フラットミリング)に対応したハイブリッドタイプのイオンミリング装置です。これにより、試料内部構造観察や各種分析など、さまざまな評価目的に応じた試料作製が可能です。

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イオンスパッタ MC1000

マグネトロン電極の採用で試料をマイルドコーティング

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ZONETEMⅡ

日立電子顕微鏡用サンプルクリーナー ZONETEMⅡ

試料の前処理時や保管時、試料表面に付着したハイドロカーボンをUV照射により除去し、コンタミネーションを低減する日立サイドエントリ試料ホルダーに対応したクリーナーです。

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ZONESEMⅡ

日立電子顕微鏡用サンプルクリーナー ZONESEMⅡ

試料の前処理時や保管時、試料表面に付着したハイドロカーボンをUV照射により除去し、コンタミネーションを低減するクリーナーです。

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Leica 凍結切片作製用ウルトラミクロトーム EM FC7

Leica社のFCシリーズは、試料部、ナイフ、チャンバー雰囲気を高精度に制御し、さまざまな工業材料(ゴム・プラスチック・多層フィルム等の高分子材料)や生物試料の超薄切片作製断面出しを行うことができます。

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Leica 凍結置換システム EM AFS2

凍結試料は、極低温下で化学固定や包埋処理されることで、より忠実な超微形態や弱い抗原を残すことができます。

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Leica ウルトラミクロトーム EM UC7シリーズ

光学顕微鏡で用いる準超薄切片から、TEMで要求される高品質な超薄切片、さらにSEM、あるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製にも活用できます。

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Leica ターゲット断面試料作製システム EM TXP

SEM、光学顕微鏡およびTEM観察用試料に向け、切断・研磨専用に開発されたターゲット断面作製装置です。

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Leica イオンビームミリング装置 EM RES102

イオンエネルギーが可変の2つのサドルフィールド型イオン源を備え、速やかにミリングの結果が得られるイオンビームミリング装置です。

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Leica 高真空コーティング装置 EM ACE600

EM ACE600は、FE-SEMとTEMのアプリケーション向けに、各種金属やカーボンを非常に薄く均質で粒状性の良い成膜をすることが出来ます。

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Leica 自動浸漬凍結装置 EM GP

EM GPは、氷包埋法に対応した環境制御式自動浸漬凍結装置です。プログラミングにより制御された試料環境で再現性のあるプロセスを実現できます。

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ALLIED 精密研磨装置 MultiPrep™システム

ALLIED社MultiPrep™システムは、広範囲な材料を、高精度かつ半自動で処理することのできる研磨装置です。

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ALLIED 包埋試料研磨装置 MetPrep™/DualPrep™

MetPrep™およびDualPrep™研磨機は、半自動式の包埋試料研磨システムです。

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ALLIED 精密低速切断機 TechCut 4™

高速切断の際に生じる熱影響が心配な、小型試料の切断に適した低速切断機です。

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ALLIED 精密高速切断機 TechCut 5™

さまざまな種類やサイズの材料を切断する多目的なプログラマブル精密高速切断機です。

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ALLIED 精密ミリング/ポリッシングシステム X-Prep™

X-Prep™は、自動精密CNC装置で、研究室の作業者が操作するよう設計されたユーザー指向のインターフェースを装備しています。

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ALLIED 手動研磨装置 M-Prep™

M-Prep™研磨装置は手動による試料の作成に適しています。直径8″(203 mm)、10″(254 mm)または12″(305 mm)のプラテンとともに使用することができます。

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ALLIED 手動研磨装置 TwinPrep5™

TwinPrep5™研磨装置は手動研磨による様々な材料の試料の作成に適しています。

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GATAN 精密イオンポリッシング装置 MODEL 695PIPSⅡ

最小限の労力で質の高いTEMサンプルを作製する目的でデザインされた“ユーザーフレンドリー”な精密イオン研磨機です。

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GATAN 精密ディンプルグラインダ装置 MODEL 656

透過電子顕微鏡試料をイオンミリング法や化学的エッチング法により処理する場合、威力を発揮する前処理研磨装置です。

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GATAN 超音波ディスクカッター MODEL 601

セラミックスや半導体材料などをプレート上に、またバルク試料から円筒上に試料を切り出す装置です。

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