전계방출형 주사전자현미경 (FE-SEM)
전계방출형 주사전자현미경 (FE-SEM): In-Lens형, Semi-In-Lens형, Out Lens형 전계방출형 주사현미경(FE-SEM) 을 소개합니다.
초고분해능 Schottky 주사전자현미경 SU8700
SU8700은 고공간 분해능과 다양한 신호 검출을 통한 관찰 성능으로 디바이스나 재료 분석에서 생명과학에 이르는 폭넓은 분야의 관찰 및 분석 업무를 지원합니다. Schottky FE 전자총을 탑재하여 극저가속 전압 관찰부터 대조사전류가 필요한 고속 분석까지 광범위한 분석 기법에 사용할 수 있습니다. 광학계의 자동 조정 기능과 데이터 취득 자동화 지원 옵션 기능을 탑재하여 대량의 데이터를 자동으로 얻을 수 있습니다.
초고분해능 전계방출형 주사전자현미경 SU8600
SU8600은 고공간 분해능과 다양한 신호 검출을 통한 관찰 성능으로 디바이스나 재료 분석에서 생명과학에 이르는 폭넓은 분야의 관찰 및 분석 업무를 지원합니다. 고휘도 cold FE 전자총과 검출 신호 제어기능으로 Hight Contrast Image를 높은 분석능으로 제공합니다. 광학계의 자동 조정 기능과 데이터 취득 자동화 지원 옵션 기능을 탑재하여 대량의 데이터를 자동으로 얻을 수 있습니다.
초고분해능 Schottky 주사전자현미경 SU7000
복수의 2차전자 신호와 반사전자 신호의 동시 취득으로 다양한 신호를 신속하게 취득. 최대 6채널 신호를 동시 표시,보존으로 Imaging 능력을 최대화 합니다. 대형시료실이나 저진공 대응 기능으로 FE-SEM에 요구되는 다양한 관찰 니즈에 대응합니다. 또한 Schottky Emitter 탑재한 전자총으로 조사 전류는 최대 200 nA까지 도달가능. Microanalysis나 기존 분석 방법의 다양화, 확장에도 대비하고 있습니다.
고분해능 쇼트키 주사전자현미경
SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus
SU3900/SU3800SE Series는 FE-SEM으로서 충분한 고분해능 관찰 성능을 보유하면서도, 범용 SEM처럼 시료의 크기나 무게에 대한 제약 없이 간편한 조작으로 데이터를 획득할 수 있도록 설계된 제품입니다.철강과 같은 산업용 소재나 자동차·항공 관련 부품 등, 크고 무거운 시료의 관찰에도 적합합니다. 또한 다양한 분야에서의 측정 요구에 대응하기 위해, SE Series는 총 4가지 모델(2가지 타입, 2가지 등급)로 구성되어 있습니다. 자부품 및 반도체를 포함한 다양한 소재의 고기능화 및 고성능화를 위한 미세구조 제어뿐만 아니라, 제품 품질 향상을 위한 이물질 및 불량 분석 등 다양한 용도에 맞추어 최적의 모델을 선택할 수 있습니다.
Schottky 주사현미경 SU5000
SEM을 처음 사용하는 사용자에게도 「깨끗한 Image를 얻을 수 있다는 체험」, 혼자서 성취하고 숙달될 수 있다는 「성공 체험」, 그리고 숙달된 사용자에게도 풍부한 기능을 제공할 수 있는 새로운 「체험」. EM Wizard는 다양한 “User Experience”의 제공을 통하여 새로운 SEM의 즐거움과 재미를 개척하겠습니다.