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Hitachi High-Tech Korea Co.,Ltd.
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전계방출형 주사전자현미경 (FE-SEM)

전계방출형 주사전자현미경 (FE-SEM): In-Lens형, Semi-In-Lens형, Out Lens형 전계방출형 주사현미경(FE-SEM) 을 소개합니다.

초고분해능 전계방출형 주사전자현미경 SU9000

초고분해능 전계방출형 주사전자현미경 SU9000

새롭게 개발한 전자총을 탑재하여 초고분해능 관찰을 실현하였으며, 전자선 관찰 시, 시료 Damage를 최소화하였습니다.

초고분해능 Schottky 주사전자현미경 SU8700

초고분해능 Schottky 주사전자현미경 SU8700

SU8700은 고공간 분해능과 다양한 신호 검출을 통한 관찰 성능으로 디바이스나 재료 분석에서 생명과학에 이르는 폭넓은 분야의 관찰 및 분석 업무를 지원합니다. Schottky FE 전자총을 탑재하여 극저가속 전압 관찰부터 대조사전류가 필요한 고속 분석까지 광범위한 분석 기법에 사용할 수 있습니다. 광학계의 자동 조정 기능과 데이터 취득 자동화 지원 옵션 기능을 탑재하여 대량의 데이터를 자동으로 얻을 수 있습니다.

초고분해능 전계방출형 주사전자현미경 SU8600

초고분해능 전계방출형 주사전자현미경 SU8600

SU8600은 고공간 분해능과 다양한 신호 검출을 통한 관찰 성능으로 디바이스나 재료 분석에서 생명과학에 이르는 폭넓은 분야의 관찰 및 분석 업무를 지원합니다. 고휘도 cold FE 전자총과 검출 신호 제어기능으로 Hight Contrast Image를 높은 분석능으로 제공합니다. 광학계의 자동 조정 기능과 데이터 취득 자동화 지원 옵션 기능을 탑재하여 대량의 데이터를 자동으로 얻을 수 있습니다.

초고분해능 Schottky 주사전자현미경 SU7000

초고분해능 Schottky 주사전자현미경 SU7000

복수의 2차전자 신호와 반사전자 신호의 동시 취득으로 다양한 신호를 신속하게 취득. 최대 6채널 신호를 동시 표시,보존으로 Imaging 능력을 최대화 합니다. 대형시료실이나 저진공 대응 기능으로 FE-SEM에 요구되는 다양한 관찰 니즈에 대응합니다. 또한 Schottky Emitter 탑재한 전자총으로 조사 전류는 최대 200 nA까지 도달가능. Microanalysis나 기존 분석 방법의 다양화, 확장에도 대비하고 있습니다.

Schottky 주사현미경 SU5000

Schottky 주사현미경 SU5000

SEM을 처음 사용하는 사용자에게도 「깨끗한 Image를 얻을 수 있다는 체험」, 혼자서 성취하고 숙달될 수 있다는 「성공 체험」, 그리고 숙달된 사용자에게도 풍부한 기능을 제공할 수 있는 새로운 「체험」. EM Wizard는 다양한 “User Experience”의 제공을 통하여 새로운 SEM의 즐거움과 재미를 개척하겠습니다.