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高解析度FEB测量装置(CD-SEM)CG6300通过电子光学系统的全新设计提高了解析度,并进一步提高了测量可重复性和图像画质。
适用于对应4、6、8英寸晶圆的测量SEM
运用ADR和高精度ADC来为提高良率做贡献的Inline缺陷观测SEM。
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