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新着ニュース

2018年12月12日

2019年1月18日(金)開催：日立走査電子顕微鏡(SEM)基礎セミナー

2018年12月11日

ウェーハ表面検査装置「LS9300A-EG」を開発

2018年12月10日

2019年2月21日(木)開催：SEMセミナー(神奈川)2019

2018年11月28日

2018年12月5日(水)～7日(金)開催：第28回液晶・有機EL・センサ技術展

2018年11月26日

日立ハイテクサイエンス小山事業所が「緑化優良工場」として日本緑化センター会長表彰を受賞

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ニュースリリース

2018年12月11日

ウェーハ表面検査装置「LS9300A-EG」を開発

2018年11月16日

当社社員が「平成30年秋の褒章」において黄綬褒章を受章

2018年11月7日

第56回技能五輪全国大会および第38回全国障害者技能競技大会にて金メダル獲得

2018年10月26日

日立ハイテクの特許「オーバーレイ計測方法および計測装置」が平成30年度関東地方発明表彰で「文部科学大臣賞」「実施功績賞」を受賞

2018年10月25日

2019年3月期第2四半期決算発表

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製品ニュース

2018年10月17日

ナノ3D光干渉計測システム「VS1800」の販売を開始

2018年1月30日

「高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000」公開

2018年1月30日

「フィルム業界最新測定技術のご紹介」情報更新

2018年1月30日

「高傾斜測定オプションのご紹介」新規公開

2018年1月30日

「解析支援 “ISO 25178 パラメータ比較ツール”のご紹介」新規公開

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イベントニュース

2018年12月12日

2019年1月18日(金)開催：日立走査電子顕微鏡(SEM)基礎セミナー

2018年12月10日

2019年2月21日(木)開催：SEMセミナー(神奈川)2019

2018年11月28日

2018年12月5日(水)～7日(金)開催：第28回液晶・有機EL・センサ技術展

2018年11月15日

SEMICON Japan 2018

2018年11月15日

2018年12月5日(水)～7日(金)開催：第5回高機能金属展

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トピックス

2018年11月29日

「2018年度第2四半期株主通信」を掲載しました

2018年11月26日

日立ハイテクサイエンス小山事業所が「緑化優良工場」として日本緑化センター会長表彰を受賞

2018年11月16日

「日立ハイテクサイエンスの森」で植樹祭を実施

2018年11月9日

「2018年度第2四半期報告書」を掲載しました

2018年10月31日

中間配当金に関するご案内

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古物商許可株式会社日立ハイテクノロジーズ：東京都公安委員会許可：第301089903850号