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業種業界から探す 家電

家電

ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ

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ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ

ハンドヘルドタイプのLIBS(レーザー誘起ブレークダウン法)装置です。圧倒的な分析速度に加え、アルミニウムなどの軽元素に強いため、日々におけるサンプルの大量測定に最適な分析手法です。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

"実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。"

小型イオンビームミリング装置

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小型イオンビームミリング装置

小型イオンビームミリング装置の紹介ページです。

枚葉式イオンビームミリング装置

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枚葉式イオンビームミリング装置

枚葉式イオンビームミリング装置の紹介ページです。

バッチ式イオンビームミリング装置

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バッチ式イオンビームミリング装置

バッチ式イオンビームミリング装置の紹介ページです。

多槽バッチ式ウェットステーション

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多槽バッチ式ウェットステーション

バッチ式洗浄・剥離・エッチング処理に適応した装置です。ワークのディップ処理から乾燥までの連続処理が可能です。

スピンプロセッサー(MSP-1)

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スピンプロセッサー(MSP-1)

少量生産・研究開発などに適した処理装置です。ワークのケミカル処理から乾燥までの一括処理が可能です。

マルチスピンプロセッサー(MSP-2)

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マルチスピンプロセッサー(MSP-2)

量産、大量生産向けの枚葉式処理装置です。各ユニットをセパレート化することにより、装置停止することなくメンテナンスが可能です。

MEMSデバイス装置

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MEMSデバイス装置

MEMSデバイス装置の紹介ページです。

薄膜装置

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薄膜装置

薄膜装置の紹介ページです。

パワーデバイス検査装置

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パワーデバイス検査装置

パワーデバイス検査装置の紹介ページです。

Plasma Cleaner

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Plasma Cleaner

IC、LED、PCB、LCD等の電子部品製造工程でのクリーニング、表面改質等で幅広くお使いいただける装置です。 バッチ装置と処理量に特化したインライン装置をご提案します。

プラズマ処理装置 デスミア/デスカム/表面改質

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プラズマ処理装置 デスミア/デスカム/表面改質

独自の電極構造を用いたプラズマ処理装置です。リジットプリント基板からフレキシブルプリント基板まで豊富なラインナップから最適な装置をご提案します。

電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

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電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

電子スキャン(=フェーズドアレイ方式)で最大周波数75MHzを実現した超音波映像装置です。

超音波映像装置 FineSAT III

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超音波映像装置 FineSAT III

超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

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ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

ナノフォトン社が開発した、高速、高画質のレーザーラマン顕微鏡 RAMANtouchは、最先端の光学技術を取り入れた分光器と光学素子を搭載し、空間分解能と感度をさらに向上させました。あらゆるアプリケーションで高いパフォーマンスを発揮します。

広視野ラマンスコープ RAMAN view

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広視野ラマンスコープ RAMAN view

広視野ラマンスコープ RAMANviewは、ラマンイメージングの適用範囲を大きく広げました。 実体顕微鏡で使われる広視野対物レンズに最適化した光学系を搭載。最大 2.5cm 角の範囲をラマンイメージングすることができます。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

フィールド機器・分析計の紹介ページです。

製造実行系システム

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製造実行系システム

製造実行系システムの紹介ページです。

プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

パネル計器

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パネル計器

パネル計器の紹介ページです。

総合計装システム EX-N01A

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総合計装システム EX-N01A

日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環 境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛 躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それ が「EX-N01A」です。

コンパクト計装システム PD-N01

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コンパクト計装システム PD-N01

日立コンパクト計装システム「PD-N01」は、プログラマブルコントローラ(PLC)に分散型制御システム(DCS)の演算モジュールを実装することで、温度・流量・圧力制御など高度で複雑なアナログ制御を可能とした新発想の計装システムです。 DCSの優位点である強力なアナログ制御機能や充実した監視制御ソフト群、ソフトウェア資産の継承性などはそのまま活かし、ハードウェアの入手容易性などを融合してコンパクト化を図った新しいコンセプトの計装システムです。

各種抵抗器

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各種抵抗器

各種抵抗器の紹介ページです。

金型管理サービス

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金型管理サービス

金型管理サービスの紹介ページです。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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