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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ
日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない！ ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。
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蛍光X線膜厚計 FT110A
自動位置決め機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察光学系の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができます。これにより、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。
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蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ
微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
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蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD
半導体検出器搭載により、フラッシュ金（Au）めっきの膜厚測定や無電解ニッケル（Ni）めっきのリン(P)濃度測定等、比例計数管モデルでは測定の難しいアプリケーションに対応可能です。 また、複数種類あるステージやコリメータからの選択により、最適な装置構成を実現できます。
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加熱脱離質量分析計（フタル酸エステル類スクリーニング検査装置）HM1000A
RoHS指令の改正に伴い、2019年7月から、絶縁被覆材や電気絶縁テープ、包装用フィルムなどに使用されている4種類のフタル酸エステルが規制対象物質に加わります。 本装置は、フタル酸エステル類の迅速なスクリーニング検査を生産現場で簡単に行うための専用機です。操作性の良さに加え、約8時間で50個の自動測定という高スループットな検査を実現しています。
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BRUKER 時間領域（TD）NMR the minispec mqシリーズ
R&D100 awardを獲得したminispec mqシリーズには、御社の品質管理（QC）や研究開発（R&D）の目的にぴったりあった構成と拡張性が用意されています。 the minispec mqシリーズは、今日知られている最も広範囲の測定周波数を提供します。大きなサンプル径の7.5MHzから、20MHz、40MHz、そして比類なき60MHzのmq60まで、幅広いレンジをカバーしています。 the minispec mq-oneシリーズは、一般的な品質管理アプリケーション用で、設置面積が小さく、高いパフォーマンスを特長とし、the minispec mqシリーズは複数のアプリケーションをサポートし、交換ツール不要のプローブや、温度可変プローブ、磁場のグラジエント・パルスなど、幅広いアップグレードができる特長があります。
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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ
実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。
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Plasma Cleaner
IC、LED、PCB、LCD等の電子部品製造工程でのクリーニング、表面改質等で幅広くお使いいただける装置です。 バッチ装置と処理量に特化したインライン装置をご提案します。
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プラズマ処理装置 デスミア／デスカム／表面改質
独自の電極構造を用いたプラズマ処理装置です。リジットプリント基板からフレキシブルプリント基板まで豊富なラインナップから最適な装置をご提案します。
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超音波映像装置 FineSAT III
超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。
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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330
光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。
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ナノ3D光干渉計測システムVS1800
ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。
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ダイオキシン前駆体モニタ CP-2000/PCBモニタ CP-2000P
ごみ焼却場での排ガスに含まれるクロロフェノール、クロロベンゼンの濃度を、またPCB分解処理設備でのPCB濃度を連続的に測定・監視します。
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日立ハイテクの材料開発ソリューション
MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。