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日立ハイテク
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TMシリーズ専用エネルギー分散型X線分析装置 Elementシリーズ

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据置型SEM用EDSの性能を卓上顕微鏡へ

米国EDAX製EDSです。Si3N4ウィンドウSDDはマッピング速度や検出限界を向上した高計数率EDSです。

* TM4000シリーズとの組み合わせ例

* 検出器内蔵型(製造元:EDAX Inc.)

価格:お問い合わせください

取扱会社:株式会社 日立ハイテク

特長

Si3N4ウィンドウ

Si3N4ウィンドウで低エネルギーX線の透過率を最適化。
特に軽元素が高感度に分析可能です。

高いX線透過率
高いX線透過率
左:低エネルギーX線検出が可能 右:窒素感度が倍増

高いX線計数率

従来のポリマーウィンドウ検出器と比べて、Si3N4ウィンドウ検出器はX線計数率がアップしているため、マッピング速度、検出限界が向上しています。

左:従来の検出器 右:Element 加速電圧:20 kV 試料:ステンレス鋼

技術機関誌 SI NEWS

弊社製品を使用した社内外の研究論文、技術情報、アプリケーションおよび新製品情報を公開しています。

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電子顕微鏡により忠実に再現した、金属、鉱物、生物などの造形の美をコンピュータのグラフィック技術により、さらに美しく仕上げた写真集です。

年表で見る日立の電子顕微鏡の歩みを紹介します。

電子顕微鏡の観察に関するポイントなど田中先生の「秘伝」を伝授いただきました。

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