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Hitachi

日立高新技术在中国

台式显微镜TM3030Plus

扩展了在低真空条件下的观察性能。
TM3030Plus可以在低真空条件下进行二次电子图像观察。

特点

Plus1:配备高灵敏度低真空二次电子探测器


样品: 印刷纸(无喷金处理)
二次电子、5 kV、charge-up reduction mode,
放大倍率: ×1,000

TM3030Plus采用高级别电镜上装备的高灵敏度低真空二次电子探头。
无需样品前处理,即可在低真空条件下观察二次电子图像。

Plus2:能够实现包含样品细微形貌和成分信息的合成图像

因为TM3030Plus能够把同一视野中的二次电子图像和背散射电子图像合成在一起,所以能够同时观察样品的表面形貌和成分信息。

背散射电子图像

二次电子图像

合成图像

样品: 陶瓷(无喷镀)
5 kV、standard mode、放大倍率:×1,000

Plus3:装备了大口径(30mm2)电制冷能谱* 可进行快速的能谱分析

能谱(能量分散型X射线分析仪)上,装备了30 mm2的大口径电制冷探头(硅漂移探测器),能进行高效率的定性分析,元素面分布。
无需金属喷镀等前处理,在不损伤重要的样品的前提下,进行观察和分析。

二次电子图像

背散射电子图像

合成图像

样品: 可变电阻断面(无喷镀)
15 kV、standard mode,
放大倍率: ×3,000

* :
选配

规格

Plus1:配备高灵敏度低真空二次电子探测器


样品: 印刷纸(无喷金处理)
二次电子、5 kV、charge-up reduction mode,
放大倍率: ×1,000

TM3030Plus采用高级别电镜上装备的高灵敏度低真空二次电子探头。
无需样品前处理,即可在低真空条件下观察二次电子图像。

Plus2:能够实现包含样品细微形貌和成分信息的合成图像

因为TM3030Plus能够把同一视野中的二次电子图像和背散射电子图像合成在一起,所以能够同时观察样品的表面形貌和成分信息。

背散射电子图像

二次电子图像

合成图像

样品: 陶瓷(无喷镀)
5 kV、standard mode、放大倍率:×1,000

Plus3:装备了大口径(30mm2)电制冷能谱* 可进行快速的能谱分析

能谱(能量分散型X射线分析仪)上,装备了30 mm2的大口径电制冷探头(硅漂移探测器),能进行高效率的定性分析,元素面分布。
无需金属喷镀等前处理,在不损伤重要的样品的前提下,进行观察和分析。

二次电子图像

背散射电子图像

合成图像

样品: 可变电阻断面(无喷镀)
15 kV、standard mode,
放大倍率: ×3,000

* :
选配

观察实例

样品:蝴蝶鳞片(金属喷镀)
二次电子、15 kV、standard mode,
放大倍率: ×20,000

样品:胃药(无喷镀)
合成、5 kV、standard mode,
放大倍率: ×1,000