－進化したパラメーター自動調整機能と新GUIで手軽にナノ領域観察を実現－
2014年8月28日
走査型プローブ顕微鏡(SPM : Scanning Probe Microscope)は試料と探針間の原子間力、固さ、粘弾性、摩擦、電気、磁気などの様々な物理量を検出し、ナノレベルでサンプル表面の形状観察や物性マッピングを行うことができる装置で、利用分野が大きく広がっています。日立ハイテクサイエンスのSPM制御ステーション「AFM5000II」は進化した測定パラメーター自動調整機能RealTune(リアルチューン)IIを標準搭載するとともに、分かりやすさを追求したGUIに一新しました。これによりSPM初心者、また初めて測定する試料でも、再現性の高いデータが取得できます。
測定時に調整が必要なパラメーター全てを自動調整するので、熟練したオペレーターがいなくても再現性の高いデータが取得できます。測定時の力、走査周波数、制御ゲインに加え、新たにカンチレバーの動作周波数と振幅も総合的に自動調整を行い、接続機種、カンチレバーの種類、表面形状、探針・試料間の状態に合わせて、最適な測定条件を提供します。
アイコン表示で見やすさ、使いやすさ、分かりやすさを追求しました。表示する情報を厳選することにより、初心者から上級者まで幅広いユーザーが迷わずに操作することができます。また、パラメーター自動調整機能RealTuneIIとの組み合わせにより、試料とカンチレバーのセット後はワンクリックで測定することができます。
| 標準搭載機能 | RealTuneII(パラメーター自動調整機能)、探針評価機能、ナビゲーション(操作手順説明)、ワンクリック自動測定 |
|---|---|
| 接続機種(測定ユニット) | AFM5100N、AFM5200S、AFM5300E |
| 本体外形寸法、質量 | 220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15 kg |
AFM5100N/5200Sユニット用 500万円から
AFM5300Eユニット用 800万円から
250台/年間
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