―光学顕微鏡と走査電子顕微鏡における同一箇所の観察を容易に―
株式会社日立ハイテクノロジーズ（執行役社長：宮﨑 正啓／以下、日立ハイテク）と国立研究開発法人理化学研究所（理事長：松本 紘／以下、理研）はこのたび、光学顕微鏡と走査電子顕微鏡による同一箇所の観察を容易にするCLEM*1用システム、「MirrorCLEM」を共同開発し、7月25日に日立ハイテクより発売します。
顕微鏡には様々な種類があり、ナノテク分野、材料分野、医学・生物分野と幅広い用途で使用されています。医学・生物分野では、細胞や組織の微細構造の解明のため電子顕微鏡が利用される一方、分子レベルでのタンパク質の局在や挙動を観察するため、光学顕微鏡の一種である蛍光顕微鏡の活用が進んでいます。このように昨今は、電子顕微鏡と蛍光顕微鏡のように、異なる種類の顕微鏡を用いて観察するCLEMが盛んに開発・報告されてきましたが、倍率領域・観察項目が異なる顕微鏡同士での同一箇所の観察は、容易ではありませんでした。
この課題に対し、日立ハイテクと理研環境資源科学研究センターの豊岡公徳上級研究員らのグループは、2015年より、GFP*2の蛍光を放つ細胞小器官*3の微細構造を観察可能なCLEM用システムの研究開発を進めてきました。理研は、GFP蛍光と微細形態の両方を保持した状態で樹脂包埋*4する試料前処理方法と観察フローを開発し、日立ハイテクは、樹脂包埋切片をプレパラートごと容易に電界放出型走査電子顕微鏡（以下、FE-SEM）で観察するための専用治具*5と、蛍光を放つ細胞小器官の同一位置を迅速かつ正確に観察するソフトウェアの開発を進めてきました。
このたび日立ハイテクと理研が共同開発した「MirrorCLEM」はFE-SEMを用いて迅速かつ正確なCLEM解析を支援するシステムです。このシステムにより、樹脂切片を光学顕微鏡を用いて低倍率からターゲット構造が明瞭に観察される高倍率まで観察した後、観察位置情報をFE-SEMのステージ位置情報と同期させたうえ、ステージの外部制御を行うことで、FE-SEMによる同一箇所の観察が可能になります。また、光学顕微鏡とFE-SEMのオーバーレイ画像のリアルタイム表示も可能です。実際に、シロイヌナズナの根や子葉においてGFP蛍光を放つペルオキシソームの微細形態が、本システムを搭載したSU8220形FE-SEMによって明らかにされました。
CLEM用システム「MirrorCLEM」はSU8200シリーズFE-SEMに搭載されるシステムとして、日立ハイテクが発売し、年間50セットの販売を見込んでいます。様々な顕微鏡との相関が可能となる本システムを用い、医学・生物学に問わず様々な分野における光学顕微鏡との相関解析に日立ハイテクは貢献してまいります。
本システムの全体イメージ
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