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化学リサイクル

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

フィールド機器・分析計の紹介ページです。

製造実行系システム

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製造実行系システム

製造実行系システムの紹介ページです。

プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

パネル計器

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パネル計器

パネル計器の紹介ページです。

総合計装システム EX-N01A

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総合計装システム EX-N01A

日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それが「EX-N01A」です。

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

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検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)の紹介ページです。

超音波映像装置

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超音波映像装置

3Dウエハ、MEMSウェハ用途の非破壊検査装置 試作品の接合界面評価から量産品の全数検査まで

超音波映像装置 FineSAT III

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超音波映像装置 FineSAT III

超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。

偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない! ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。

蛍光X線分析装置(XRF)

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蛍光X線分析装置(XRF)

蛍光X線分析装置(XRF)の紹介ページです。

BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXmicro

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BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXmicro

Pd/Co合金アノードX線管球を採用した新開発X線励起システムと、最大100万cpsの高計数率検出器を搭載したエネルギー分散型蛍光X線装置です。 液体や粉体、固体サンプルの主成分元素から極微量元素まで、幅広いアプリケーションで高感度・高精度な分析を実現します。

BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXplus

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BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXplus

サイズを小さくして、性能を高める EMXmicroは、タワーPCほどのわずかな設置面積で、磁場と信号分解能でEPR性能を高めた新たな小型連続波分光計(CW-EPR)を提供します。

電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)

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電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)

電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)の紹介ページです。

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

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液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)の紹介ページです。

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

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ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)の紹介ページです。

質量分析装置(LC-MS、GC-MS)

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質量分析装置(LC-MS、GC-MS)

質量分析装置(LC-MS、GC-MS)の紹介ページです。

BRUKER 時間領域(TD)NMR the minispec mqシリーズ

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BRUKER 時間領域(TD)NMR the minispec mqシリーズ

R&D100 awardを獲得したminispec mqシリーズには、御社の品質管理(QC)や研究開発(R&D)の目的にぴったりあった構成と拡張性が用意されています。 the minispec mqシリーズは、今日知られている最も広範囲の測定周波数を提供します。大きなサンプル径の7.5MHzから、20MHz、40MHz、そして比類なき60MHzのmq60まで、幅広いレンジをカバーしています。 the minispec mq-oneシリーズは、一般的な品質管理アプリケーション用で、設置面積が小さく、高いパフォーマンスを特長とし、the minispec mqシリーズは複数のアプリケーションをサポートし、交換ツール不要のプローブや、温度可変プローブ、磁場のグラジエント・パルスなど、幅広いアップグレードができる特長があります。

熱分析・粘弾性装置

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熱分析・粘弾性装置

熱分析・粘弾性装置の紹介ページです。

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

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分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)の紹介ページです。

X線回折装置(XRD)

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X線回折装置(XRD)

X線回折装置(XRD)の紹介ページです。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。

ガスバリア試験装置

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ガスバリア試験装置

ガスバリア試験装置の紹介ページです。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

設計及び開発業務の効率化や品質向上の為の課題を早期解決しませんか?
評価リソースやコストに関する各種ご提案をご用意しております。

日立ハイテクの材料開発ソリューション

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日立ハイテクの材料開発ソリューション

MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。