透射电子显微镜 (TEM/STEM)
为您介绍透射电子显微镜(TEM/STEM)(场发射透射电子显微镜、透射电子显微镜、球差校正扫描透射电子显微镜)。

球差场发射透射电子显微镜 HF5000
200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能。通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。

球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。
