电子显微镜 (SEM/TEM/STEM)

随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。

随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。

专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。

现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100。

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。 SU7000是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜，可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界。

创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。

MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM用系统。

日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。

“先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计，仍具备4.0 nm的图像分辨率。全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。

TM4000 II可支持20kV的加速电压。此外，凭借Multi Zigzag（连续视野捕获功能：可选）可实现范围更广的SEM观察。并竭诚为您提供可广泛观察、分析的应用程序。

TM系列专用能谱仪（EDS）AZtec系列的特点是「图标按操作流程顺序排列，操作简便」，「通过对应谱图可简单确认元素重叠状况」，是「通过TruMap功能分离出谱峰重叠元素并准确显示（AZtecOne）」。

TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75的特点是「通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布」，「移动到指定位置，可实时确认其谱图」，是「超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果」。

200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能。通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。

"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列，包含配备高衬度透镜，实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备高分辨率透镜的HT7830。