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日立ハイテク
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膜厚測定装置

膜厚測定(蛍光X線膜厚計)

蛍光X線を使用しためっき膜厚計で、試料を破壊することなく、非接触・短時間での膜厚測定が可能です。高い信頼と長年の実績を有する日立ハイテクサイエンスの最新シリーズ、蛍光X線膜厚計FT100シリーズは、膜厚測定の次なるステージをご提案します。

製品情報

蛍光X線膜厚計の製品ラインアップの紹介です。豊富なオプションによりお客様の測定ニーズに合わせた装置構成が可能です。

蛍光X線分析(XRF)、蛍光X線膜厚測定のアプリケーション(測定事例)を紹介しています。

当社主催の蛍光X線分析/膜厚測定ユーザースクールのご案内です。

製品ユーザー向け情報

当社の蛍光X線膜厚計をお使いのお客様向けの情報です。

装置蛍光X線分膜厚計に関する保守・サービス情報をまとめています。

当社装置をお使いのユーザー様向けに、アプリケーションデータをはじめ各種情報をご提供しています。

生産を終了した製品一覧と、消耗品・修理部品の保有期限の一覧です。

蛍光X線膜厚計に関連する最新情報をご提供しています。

蛍光X線分析の原理解説と応用例のご紹介です。

スペシャルコンテンツ

蛍光X線分析に関する最新トピックをまとめました。

蛍光X線分析の技術をコラム形式でご紹介しています。

蛍光X線分析/膜厚測定についての参考文献・発表をまとめています。

ISO/IEC17025取得の当社試験所のご紹介です。