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インク・塗料

偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない! ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。

蛍光X線分析装置 EA1000AIII

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蛍光X線分析装置 EA1000AIII

オプションの精度管理型ソフトウェアをより進化させ標準装備にすることにより低価格化を実現。また当社従来機種に比べ検査時間を1/3と大幅な短縮化を実現しスループットを向上させました。

蛍光X線分析装置 EA1400

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蛍光X線分析装置 EA1400

RoHS対応をはじめ、スラグ、セメントなどの工程管理や品質管理、また、混入異物や異常部などの故障解析や調査分析など、多岐にわたるアプリケーションで高スループット分析を提供します。

X線異物解析装置 EA8000A

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X線異物解析装置 EA8000A

リチウムイオン二次電池や燃料電池で問題となる可能性のある20 µm級の微小な金属異物を高速検出、元素同定する検査装置です。 検査条件の選択後、測定を開始するだけで、X線透過像の撮像から、金属異物の検出、その元素同定までを自動で実行でき、製造現場での故障解析・検査として活用されています。

蛍光X線分析装置 LAB-X5000

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蛍光X線分析装置 LAB-X5000

タッチスクリーンによる操作で、容易な測定を実現します。アプリケーション別にパッケージ化された装置仕様により、オイル、燃料油分析等の品質管理に適した装置です。

蛍光X線分析装置 SPECTRO XEPOS

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蛍光X線分析装置 SPECTRO XEPOS

Pd/Co合金アノードX線管球を採用した新開発X線励起システムと、最大100万cpsの高計数率検出器を搭載したエネルギー分散型蛍光X線装置です。 液体や粉体、固体サンプルの主成分元素から極微量元素まで、幅広いアプリケーションで高感度・高精度な分析を実現します。

蛍光X線膜厚計 FT110A

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蛍光X線膜厚計 FT110A

自動位置決め機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察光学系の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができます。これにより、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。

蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ

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蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ

微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。

蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD

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蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD

半導体検出器搭載により、フラッシュ金(Au)めっきの膜厚測定や無電解ニッケル(Ni)めっきのリン(P)濃度測定等、比例計数管モデルでは測定の難しいアプリケーションに対応可能です。 また、複数種類あるステージやコリメータからの選択により、最適な装置構成を実現できます。

電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)

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電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)

電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)の紹介ページです。

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

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液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)の紹介ページです。

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

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ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)の紹介ページです。

加熱脱離質量分析計(フタル酸エステル類スクリーニング検査装置)HM1000A

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加熱脱離質量分析計(フタル酸エステル類スクリーニング検査装置)HM1000A

RoHS指令の改正に伴い、2019年7月から、絶縁被覆材や電気絶縁テープ、包装用フィルムなどに使用されている4種類のフタル酸エステルが規制対象物質に加わります。 本装置は、フタル酸エステル類の迅速なスクリーニング検査を生産現場で簡単に行うための専用機です。操作性の良さに加え、約8時間で50個の自動測定という高スループットな検査を実現しています。

熱分析・粘弾性装置

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熱分析・粘弾性装置

熱分析・粘弾性装置の紹介ページです。

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

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分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)の紹介ページです。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。

ガスバリア試験装置

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ガスバリア試験装置

ガスバリア試験装置の紹介ページです。

光焼成機 PulseForge

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光焼成機 PulseForge

独自開発の高出力キセノンランプの照射光を精密制御することで、材料の表面のみを瞬間的に加熱し、乾燥、焼成させる装置です。

多機能スリットコーター

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多機能スリットコーター

多機能スリットコーターの紹介ページです。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

セルフサービス型データ分析・可視化BIツール 「TIBCO Spotfire」

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セルフサービス型データ分析・可視化BIツール 「TIBCO Spotfire」

TIBCO Spotfire(スポットファイア)とは データ分析・可視化ツール「TIBCO Spotfire(スポットファイア)」は、個人や組織内に存在する大量のビッグデータをユーザーご自身がマウス操作で直観的に分析・可視化でき、さまざまな課題に対しての原因究明を支援するセルフサービス型のBIツール*1です。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

フィールド機器・分析計の紹介ページです。

製造実行系システム

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製造実行系システム

製造実行系システムの紹介ページです。

プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

パネル計器

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パネル計器

パネル計器の紹介ページです。

総合計装システム EX-N01A

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総合計装システム EX-N01A

日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環 境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛 躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それ が「EX-N01A」です。

予兆・診断システム「BD-CUBE」

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予兆・診断システム「BD-CUBE」

予兆・診断システム「BD-CUBE」 : 日立ハイテクソリューションズの紹介ページです。

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

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検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)の紹介ページです。

脂肪族 (アルカノール) アミン

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脂肪族 (アルカノール) アミン

HUNTSMAN社は、エチレンアミンやエタノールアミンなどのベーシックなアミンの製造メーカーであるとともに、モルホリンやジグリコールアミン、ポリエーテルアミン (グレード名:JEFFAMINE) などの特殊アミンの世界的なサプライヤーとして知られております。 さらに、エレクトロニクス市場の高度な品質要求にも対応する高純度グレードも各種取り揃えております。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

設計及び開発業務の効率化や品質向上の為の課題を早期解決しませんか?
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日立ハイテクの材料開発ソリューション

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日立ハイテクの材料開発ソリューション

MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。