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業種業界から探す 電子部品リサイクル

電子部品リサイクル

偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない! ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。

蛍光X線分析装置(XRF)

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蛍光X線分析装置(XRF)

蛍光X線分析装置(XRF)の紹介ページです。

蛍光X線膜厚計 FT110A

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蛍光X線膜厚計 FT110A

自動位置決め機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察光学系の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができます。これにより、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。

蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ

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蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ

微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。

蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD

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蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD

半導体検出器搭載により、フラッシュ金(Au)めっきの膜厚測定や無電解ニッケル(Ni)めっきのリン(P)濃度測定等、比例計数管モデルでは測定の難しいアプリケーションに対応可能です。 また、複数種類あるステージやコリメータからの選択により、最適な装置構成を実現できます。

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

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液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)の紹介ページです。

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

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ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)の紹介ページです。

質量分析装置(LC-MS、GC-MS)

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質量分析装置(LC-MS、GC-MS)

質量分析装置(LC-MS、GC-MS)の紹介ページです。

BRUKER 時間領域(TD)NMR the minispec mqシリーズ

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BRUKER 時間領域(TD)NMR the minispec mqシリーズ

R&D100 awardを獲得したminispec mqシリーズには、御社の品質管理(QC)や研究開発(R&D)の目的にぴったりあった構成と拡張性が用意されています。 the minispec mqシリーズは、今日知られている最も広範囲の測定周波数を提供します。大きなサンプル径の7.5MHzから、20MHz、40MHz、そして比類なき60MHzのmq60まで、幅広いレンジをカバーしています。 the minispec mq-oneシリーズは、一般的な品質管理アプリケーション用で、設置面積が小さく、高いパフォーマンスを特長とし、the minispec mqシリーズは複数のアプリケーションをサポートし、交換ツール不要のプローブや、温度可変プローブ、磁場のグラジエント・パルスなど、幅広いアップグレードができる特長があります。

熱分析・粘弾性装置

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熱分析・粘弾性装置

熱分析・粘弾性装置の紹介ページです。

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

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分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)の紹介ページです。

X線回折装置(XRD)

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X線回折装置(XRD)

X線回折装置(XRD)の紹介ページです。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。

ガスバリア試験装置

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ガスバリア試験装置

ガスバリア試験装置の紹介ページです。

水銀測定装置 HG-400/450シリーズ

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水銀測定装置 HG-400/450シリーズ

HG-400/450シリーズは、新設計の光学系と測定流路の最適化により、高感度な測定と4種類の検液量への対応を可能にした水銀測定装置です。また、搭載の検量線作成、ファイル作成、および再計算機能を、さらに拡張・充実して、より使いやすさを追求しました。 本シリーズは、大型のカラータッチパネルを備えたメインコントロールユニットで構成するHG-400シリーズと、専用のソフトウェアによるパソコンを構成したHG-450シリーズを基本に、豊富なバリエーションをラインアップしています。

LED熱抵抗測定装置

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LED熱抵抗測定装置

LED熱抵抗測定装置の紹介ページです。

卓上X線検査装置

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卓上X線検査装置

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自動X線ウエハバンプ検査装置

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自動X線ウエハバンプ検査装置

自動X線ウエハバンプ検査装置の紹介ページです。

超音波映像装置

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超音波映像装置

3Dウエハ、MEMSウェハ用途の非破壊検査装置 試作品の接合界面評価から量産品の全数検査まで

超音波映像装置 FineSAT III

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超音波映像装置 FineSAT III

超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。

電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

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電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

電子スキャン(=フェーズドアレイ方式)で最大周波数75MHzを実現した超音波映像装置です。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

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ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

ナノフォトン社が開発した、高速、高画質のレーザーラマン顕微鏡 RAMANtouchは、最先端の光学技術を取り入れた分光器と光学素子を搭載し、空間分解能と感度をさらに向上させました。あらゆるアプリケーションで高いパフォーマンスを発揮します。

広視野ラマンスコープ RAMAN view

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広視野ラマンスコープ RAMAN view

広視野ラマンスコープ RAMANviewは、ラマンイメージングの適用範囲を大きく広げました。 実体顕微鏡で使われる広視野対物レンズに最適化した光学系を搭載。最大 2.5cm 角の範囲をラマンイメージングすることができます。

設計・製造

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設計・製造

設計・製造の紹介ページです。

防爆タブレットPC

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防爆タブレットPC

国内防爆検定取得(Zone2)、防塵・防滴構造(IP65) LTE対応でデータ通信が可能 画面に水滴がついた状態や手袋をつけたままでもタッチ操作可能

アクセス管理ソリューション

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アクセス管理ソリューション

アクセス管理ソリューションの紹介ページです。

BCP対策

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BCP対策

お客さまの情報システムのBCP対策、ディザスタリカバリ対策を日立ハイテクグループ会社のノウハウを元にご提供いたします。

クラウド・ネットワーク

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クラウド・ネットワーク

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NX Netmonitor 不正PC排除ソリューション

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NX Netmonitor 不正PC排除ソリューション

NX Netmonitor 不正PC排除ソリューションの紹介ページです。

プロセスガスモニタ CP-1000

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プロセスガスモニタ CP-1000

ガス中の極微量有害成分や素材表面の微量付着成分など高速・高感度に計測します。

ダイオキシン前駆体モニタ CP-2000/PCBモニタ CP-2000P

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ダイオキシン前駆体モニタ CP-2000/PCBモニタ CP-2000P

ごみ焼却場での排ガスに含まれるクロロフェノール、クロロベンゼンの濃度を、またPCB分解処理設備でのPCB濃度を連続的に測定・監視します。

金型管理サービス

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金型管理サービス

金型管理サービスの紹介ページです。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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