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日立ハイテク
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半導体

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

金型管理サービス

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金型管理サービス

金型管理サービスの紹介です。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

フィールド機器・分析計の紹介ページです。

製造実行系システム

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製造実行系システム

製造実行系システムの紹介ページです。

プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

パネル計器

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パネル計器

パネル計器の紹介ページです。

総合計装システム EX-N01A

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総合計装システム EX-N01A

日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それが「EX-N01A」です。

コンパクト計装システム PD-N01

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コンパクト計装システム PD-N01

日立コンパクト計装システム「PD-N01」は、プログラマブルコントローラ(PLC)に分散型制御システム(DCS)の演算モジュールを実装することで、温度・流量・圧力制御など高度で複雑なアナログ制御を可能とした新発想の計装システムです。 DCSの優位点である強力なアナログ制御機能や充実した監視制御ソフト群、ソフトウェア資産の継承性などはそのまま活かし、ハードウェアの入手容易性などを融合してコンパクト化を図った新しいコンセプトの計装システムです。

予兆・診断システム「BD-CUBE」

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予兆・診断システム「BD-CUBE」

予兆・診断システム「BD-CUBE」 : 日立ハイテクソリューションズの紹介ページです。

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

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検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

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ナノフォトン レーザーラマン顕微鏡 RAMANtouch

ナノフォトン社が開発した、高速、高画質のレーザーラマン顕微鏡 RAMANtouchは、最先端の光学技術を取り入れた分光器と光学素子を搭載し、空間分解能と感度をさらに向上させました。あらゆるアプリケーションで高いパフォーマンスを発揮します。

広視野ラマンスコープ RAMAN view

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広視野ラマンスコープ RAMAN view

広視野ラマンスコープ RAMANviewは、ラマンイメージングの適用範囲を大きく広げました。 実体顕微鏡で使われる広視野対物レンズに最適化した光学系を搭載。最大 2.5cm 角の範囲をラマンイメージングすることができます。

小型イオンビームミリング装置

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小型イオンビームミリング装置

小型イオンビームミリング装置の紹介ページです。

枚葉式イオンビームミリング装置

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枚葉式イオンビームミリング装置

枚葉式イオンビームミリング装置の紹介ページです。

バッチ式イオンビームミリング装置

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バッチ式イオンビームミリング装置

バッチ式イオンビームミリング装置の紹介ページです。

多槽バッチ式ウェットステーション

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多槽バッチ式ウェットステーション

バッチ式洗浄・剥離・エッチング処理に適応した装置です。ワークのディップ処理から乾燥までの連続処理が可能です。

スピンプロセッサー(MSP-1)

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スピンプロセッサー(MSP-1)

少量生産・研究開発などに適した処理装置です。ワークのケミカル処理から乾燥までの一括処理が可能です。

マルチスピンプロセッサー(MSP-2)

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マルチスピンプロセッサー(MSP-2)

量産、大量生産向けの枚葉式処理装置です。各ユニットをセパレート化することにより、装置停止することなくメンテナンスが可能です。

MEMSデバイス装置

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MEMSデバイス装置

MEMSデバイス装置の紹介ページです。

薄膜装置

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薄膜装置

薄膜装置の紹介ページです。

超音波映像装置 FineSAT III

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超音波映像装置 FineSAT III

超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。

LED熱抵抗測定装置

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LED熱抵抗測定装置

LED熱抵抗測定装置の紹介ページです。

Plasma Cleaner

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Plasma Cleaner

IC、LED、PCB、LCD等の電子部品製造工程でのクリーニング、表面改質等で幅広くお使いいただける装置です。 バッチ装置と処理量に特化したインライン装置をご提案します。

電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

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電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100

電子スキャン(=フェーズドアレイ方式)で最大周波数75MHzを実現した超音波映像装置です。

車載向け多用途高速データ伝送IC:APIX

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車載向け多用途高速データ伝送IC:APIX

現在、ドライバーをサポートするHMI(ヒューマン・マシーン・インタフェース)の開発競争が自動車業界では日々繰り広げられています。 より快適・安全な運転をサポートする為に、車へのディスプレイ搭載数の増加・高精細化・マルチファンクション化が求められています。 APIX(Automotive Pixel Link) はディスプレイECUと複数のディスプレイをつなぐ最も進化したSerDes (Serializer/De-serializer)です。

蛍光X線膜厚計 FT110A

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蛍光X線膜厚計 FT110A

自動位置決め機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察光学系の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができます。これにより、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。

蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ

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蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ

微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。

蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD

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蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD

半導体検出器搭載により、フラッシュ金(Au)めっきの膜厚測定や無電解ニッケル(Ni)めっきのリン(P)濃度測定等、比例計数管モデルでは測定の難しいアプリケーションに対応可能です。 また、複数種類あるステージやコリメータからの選択により、最適な装置構成を実現できます。

TOF-ICP-MS vitesse

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TOF-ICP-MS vitesse

ビテッセは、TOF(飛行時間型)質量分析計を採用した、Li~Uまでの全元素の同位体を同時に検出することができるICP質量分析装置です。NuのTOF MSは高感度であるだけでなく、広いダイナミックレンジが得られ、さらにオプションのQCT(フルサイズの四重極、セル)によって干渉を抑制することができます。これらの機能によって、ナノ粒子分析やレーザーアブレーション装置と組み合わせた元素マッピングに要求される最先端の高速多元素分析に対応できます。

熱分析・粘弾性装置

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熱分析・粘弾性装置

熱分析・粘弾性装置の紹介ページです。

紫外可視/近赤外分光光度計 Agilent Cary 4000/5000/6000i

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紫外可視/近赤外分光光度計 Agilent Cary 4000/5000/6000i

業界最高性能を備えたアジレント社製 Caryシリーズのプロフェッショナルモデル。 さまざまなアプリケーションに最適な波長範囲の機種が選べ、比類ない精度と柔軟性により、研究開発・品質管理などに幅広く対応します。 日立ハイテクサイエンスでは、日本語のCary WinUV ソフトウェアを提供します。

多角度可変自動測定分光光度計 Agilent Cary 7000

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多角度可変自動測定分光光度計 Agilent Cary 7000

業界最高性能を備えたアジレント社製 Caryシリーズのプロフェッショナルモデル。多角度可変自動測定ユニット(UMS)により、サンプルを着脱することなく、絶対反射率と透過率の両方を一連の操作で測定することができます。さらに、さまざまな入射角度と偏光測定を組み合わせることにより、サンプルの光学特性を網羅的に取得することができます。 日立ハイテクサイエンスでは、日本語のCary WinUV ソフトウェアを提供します。

分光光度計用オートサンプラ AS-1010

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分光光度計用オートサンプラ AS-1010

溶液操作の自動化・システム化に対応できるオートサンプラです。 シンプルな操作性とコストパフォーマンスを追求。 サンプルシッパなどの試料吸入機構のある紫外可視分光光度計、分光蛍光光度計などと組み合わせて使用可能です。

エッチング装置

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エッチング装置

エッチング装置の紹介ページです。

計測装置・検査装置

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計測装置・検査装置

計測装置・検査装置の紹介ページです。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

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