非破壊で試料中の元素を測定できる蛍光X線分析は、一般分析からWEEE、RoHS、中国版RoHS等の環境規制対応の出荷・受け入れ検査、また近年ではリチウムイオン電池の異物検査に至るまで幅広く用いられています。日立ハイテクサイエンスでは、用途に応じた専用機を開発し、幅広い測定ニーズをサポートしています。
2020年6月16日
2020年6月15日2020年4月23日2020年4月20日2020年4月6日2020年3月31日2020年1月21日2019年9月11日一般分析からWEEE/RoHS/ELV対応の出荷・受け入れ検査まで幅広く対応する、蛍光X線分析装置製品ラインアップの紹介です。
蛍光X線分析（XRF)、蛍光X線膜厚測定のアプリケーション（測定事例）を紹介しています。
当社主催の蛍光X線分析/膜厚測定ユーザースクールのご案内です。
当社の蛍光X線分析装置（XRF）をお使いのお客様向けの情報です。
蛍光X線分析装置に関する保守・サービス情報をまとめています。
当社装置をお使いのユーザー様向けに、アプリケーションデータをはじめ各種情報をご提供しています。
生産を終了した製品一覧と、消耗品・修理部品の保有期限の一覧です。
蛍光X線分析（XRF）に関連する最新情報をご提供しています。
蛍光X線分析の原理解説と応用例のご紹介です。
蛍光X線分析に関する最新トピックをまとめました。
蛍光X線分析の技術をコラム形式でご紹介しています。
蛍光X線分析についての参考文献・発表をまとめています。
WEEE, RoHS, 中国版RoHSなどの環境規制の概要と、それに対応する日立ハイテクサイエンスの製品をご紹介します。
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