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Hitachi

日立仪器(上海)有限公司

EA1000VX X射线荧光分析仪

对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。

特长

1. 快速测量

与之前的机器SEA1000AII相比,每个样品的测量时间*都缩短了。例如,树脂类样品测量时间缩短了约1/3,金属类则缩短了1/10。实现了处理量(每天可测样品数量)的飞跃性提高。

表.1
 塑料中的
Cd,Pb,Hg,Br,Cr
高浓度BrSb塑料中的
Cd,Pb,Hg,Cr
黄铜中的
Cd,Pb,Hg,Br,Cr
EA1000VX 约30秒 120秒以内 200秒以内
SEA1000AII 约100秒 360秒以内 2000秒以上

表.1 为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间(平均值)

*
Cd为20 ppm,除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最低限所必要的总共时间。(本公司推荐条件下实施)

2. 高技术率检测器(Vortex)

不需要液氮,使用最大15万cps的高计数率检测器(Vortex)测量高灵敏度化,实现快速测量及高精度测量等。

3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能,强化了有害物质测量功能—材料判断功能

测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析菜单,由于装置可以自动判断材质,不会在选择分析菜单时感到迷茫。

4. 提高操作性—操作面板

根据操作面板的指示器和提示音,了解测量进度。根据测量面板的进度条,把握测量进展。

5. 各种环境限制用的标准物质

除RoHS指令的管理对象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。

6. 自动进样器(选购项)

自动进样器最多可连续测量12个样品。

7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理

使用精度管理软件使测量时间变短,通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理(检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成),可测量检查的效率,达到消减成本。

规格

规格
测量元素 原子序数Al(13)~U(92)
样品形状 液体、粉体、固体
X射线源 小型空冷室X射线管
管电压50(可变) kV
管电流10~1000 µA
X射线照射方向 下方垂直照射型
检测器 Si半导体检测器(无需液氮)
分析区域 1、3、5 mmΦ(自动切换)
样品观察 彩色CCD摄像头
滤波器 5种模式自动切换
最大样品尺寸 370(W)×320(D)×120(H) mm
仪器尺寸 520(W)×600(D)×445(H) mm
重量 60 kg
电源/额定功率 AC100~240 V(50/60 Hz)/210 VA
样品交换机 可安装 *选购项

选购项

  • 薄膜FP软件
  • 薄膜检量线软件
  • 能谱匹配(跟已登陆的标准物质能谱比较)
  • 环境限制物质测量软件Ver.1
  • 各种标准物质(各种环境限制用标准物质、无铅焊锡标准物质、无铅焊锡箔标准物质)
  • 信号灯

应用数据

介绍荧光X线分析的分析实例。

荧光X线分析装置的6个特点

介绍应对环境指令的专用装置的特征。(Global site)

说明

介绍荧光X线分析的原理和应用实例。

专栏

在专栏总结了荧光X线分析技术。

环境管制专栏

介绍环境规章和日立高科技产品・服务。

「日立高新科技标志」的说明

介绍以科技领域领军者为目标的日立高新技术科学集团的象征标志。