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ハイテクEXPO日立ハイテクノロジーズ

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Sectoral Solutions of Hitachi High-Tech

日立ハイテクの分野別ソリューション

半導体

セミナー動画

導入事例

島津 武仁 様(東北大学 学際科学フロンティア研究所 先端学際基幹研究部 教授 博士(工学))
MOVIE
表面分析
・構造解析

島津 武仁 様(東北大学 学際科学フロンティア研究所 先端学際基幹研究部 教授 博士(工学))

製品名:走査型白色干渉顕微鏡+AFM5500M

池田 智一 様(ジオマテック株式会社 第二技術部 分析管理課)
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表面分析
・構造解析

池田 智一 様(ジオマテック株式会社 第二技術部 分析管理課)

製品名:走査型白色干渉顕微鏡

SI NEWS

透過型電子顕微鏡による溶液試料の観察

北海道大学 低温科学研究所 准教授
木村 勇気 博士(理学)

走査型プローブ顕微鏡によるオペランドナノ計測の動向

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 理事
藤田 大介(工学博士)

ニッケルバーコードナノワイヤーの作製とSU9000によるキャラクタリゼーション

九州大学大学院工学研究科 准教授
藤ヶ谷 剛彦 (工学博士)

各種顕微鏡法によるSiC上グラフェンの観察

徳島大学 大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 教授
永瀬 雅夫 (工学博士)

日立イオンミリング装置の最前線

伊藤 寛征
稲木 由紀

電子顕微鏡用サンプルクリーナー ZoneII for SEM

西村 雅子
中島 里絵
長谷川 伸一
砂押 毅志

トリプルビーム®NX2000

清原 正寛
佐藤 高広
酉川 翔太

高性能集束イオンビーム装置 MI4050

黒田 靖
大石 喜久
中谷 郁子
酉川 翔太

アプリケーションパネル

アプリケーション紹介

製品
タイトル / 概要