磁気力顕微鏡（MFM：Magnetic Force Microscope）
原理： 磁性探針と試料磁界との磁気的作用によるカンチレバー振動の位相変化により磁気力勾配の分布を画像化します。
- 磁性探針は微小な棒磁石です。先端のS極（またはN極）と同極で斥力、異極で引力が作用します。
- 磁気的引力、斥力作用はレバー振動の位相差で検出することができます。
MFMの走査方法
- MFMは最初、表面形状信号をDFMで測定します（1st Scan）。
- 同じラインを戻って、探針を一定距離離した非接触状態とし、1st Scanで記憶させた表面形状をトレースしながら、磁気力による位相変化を測定します（2nd Scan)。
- こうして、表面形状から常に同じ高さにおける磁気力の分布がわかります。
磁気力顕微鏡（MFM：Magnetic Force Microscope）の適用例
各種材料観察例
ナノスケール磁性体～ Y字型パーマロイ
表面形状像
MFM像
表面形状像とMFM像の重ね合せ
Y字型パーマロイ規則配列の磁気構造（東京農工大学 佐藤勝昭研究室と日立ハイテクサイエンスとの共同研究）
