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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテク

走査型近接場光学顕微鏡(SNOM:Scanning Near-field Optical Microscope)

プローブ先端に発生させた近接場光をサンプルに照射したり、サンプル表面に発生させた近接場光をプローブ先端で散乱させることで、局所的な光学特性を高分解能で測定します。

  • 光ファイバーを先鋭化し、先端に数十nm程度の微小開口を設けた光プローブを使用します。
  • プローブに光を導入し、プローブ先端に近接場の微小スポットを発生させてサンプルに照射し、光学特性を測定します。
  • 日立ハイテクサイエンスで開発したベント型光プローブでは距離制御はDFMモードで行われるためサンプルの凹凸形状の同時測定が可能です。(SNOAM:Scanning Near-field Optical/Atomic Force Microscopeまたは走査型近接場光学/原子間力顕微鏡)

  • シリコン製のカンチレバーに銀などの散乱体をコートします。
  • 外部から光を入射しサンプル表面に近接場光を発生させ、カンチレバーに設けた散乱体で散乱させて、光学特性を測定します。
  • 距離制御はDFMまたはコンタクトAFMモードで行われるためサンプルの凹凸形状の同時測定が可能です。

SNOAMの測定例

2本鎖DNA上の標識遺伝子観察 1) (イルミネーションモード)

2本鎖DNA全体とその中の特定の遺伝子をそれぞれ別の蛍光色素で標識し、ベント型光プローブにより蛍光像を測定しました。約50nmの分解能での特定の遺伝子を画像化することができました。

【その他の用途】

  • 光学限界を超える分解能での光学イメージング
  • 局所分光分析
  • バイオ、有機サンプルの蛍光測定
  • CNT、半導体などの分光分析
1)
東京工科大学村松研究室、独立行政法人食品総合研究所計測工学研究室との共同研究