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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

表面観察解析セミナー 2017 in 岡谷

~電子顕微鏡、解析装置の基礎と活用法~

テクノプラザおかやにて、電子顕微鏡、分析・解析技術に関するテーマにて開催いたします。 奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2017年11月22日(水)

開催時間

10:30~16:30(受付開始 10:00~)

会場案内

〒394-0028
長野県岡谷市本町1丁目1番1号
テクノプラザおかや 1F 大研修室

主催

高山理化精機株式会社/株式会社日立ハイテクノロジーズ

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:石本
TEL:03-3504-3949

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
10:00~ 受付開始
10:30~11:15

SEMの原理と観察テクニック
~SEMで何ができるか~

株式会社日立ハイテクフィールディング
11:15~12:00

SEM試料前処理の基礎
~SEM観察のために何が必要か~

株式会社日立ハイテクフィールディング
12:00~13:00 昼食
※会場にて卓上顕微鏡TM4000などの実機展示・実演を行います
13:00~13:35

卓上型顕微鏡の最新アプリケーションのご紹介
~TM4000Plus観察と解析のライブデモ~

13:35~14:05

進化した最新FE-SEM ~観察のトレンド~

14:05~14:35

FIB-SEMを使った電顕アプリケーションのご紹介

14:35~15:05

走査型白色干渉顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡のご紹介
~電子顕微鏡分析を補うもの~

15:05~15:25 休憩
※会場にて卓上顕微鏡TM4000などの実機展示・実演を行います
15:25~15:55

イチから学ぶEDXの原理と分析例

株式会社堀場製作所
15:55~16:25

RoHS分析の決定版!「簡単」「迅速」なフタル酸エステル類スクリーニング分析

株式会社日立ハイテクサイエンス
16:25~16:30 質疑応答 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。