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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

プライムセントラルタワー名古屋駅前にて、最先端製品とアプリケーションを中心とした新技術を紹介いたします。
当日は、普段お困りの分析・評価方法についてのご相談にお応えしたいと考えております。
奮ってご参加くださいますよう、よろしくお願い申し上げます。

開催日

2017年12月8日(金)

開催時間

13:00~17:30(受付開始 12:30~)

会場案内

愛知県名古屋市西区名駅2-27-8
名古屋プライムセントラルタワー 13階

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
中部支店 科学・医用システム部
担当:加治屋、三尾(みつお)
TEL:050-3139-4274

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:05 開会の挨拶
13:05~13:45

【特別講演】鈴鹿高専の電子顕微鏡環境と超高純度水素製造用水素透過合金膜の設計開発

鈴鹿工業高等専門学校
材料工学科
学科長 南部 智憲
13:45~14:15

材料解析をサポートするFE-SEM観察手法の拡張

14:15~14:35

電子顕微鏡画像の3D構築と計測

株式会社日本ローパー
14:35~14:50

新型イオンミリング装置 ArBlade® 5000のご紹介

14:50~15:05

ナノ材料解析向け新型120 kV TEM HT7830のご紹介

15:05~15:30 コーヒーブレイク
15:30~15:45

RoHS指令改正による追加規制物質
「フタル酸エステル類」に関する動向
~新製品 加熱脱離質量分析計「HM1000」のご紹介~

15:45~16:05

白色干渉顕微鏡及びAFMの最新解析技術
~各装置独自の手法からSEMの相関解析まで~

16:05~16:25

OXFORD EDS/EBSDの最新技術
高速・高精度分析がもたらす新たな可能性

オックスフォード・インスツルメンツ株式会社
16:25~16:50

新型日立FIB-SEM「ETHOS」のご紹介

16:50~17:30

【特別講演】FIB-SEMによる様々な試料の観察例
~ナノテクノロジー プラットフォーム事業の成果例~

名古屋大学
微細構造解析プラットフォーム
特任准教授 荒井重勇
17:30~17:35 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。