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日立ハイテクサイエンス

第21回Ｘ線分析講習会『蛍光Ｘ線分析の実際』（第10回）のご案内

2018年4月5日

来る7月3日（火）～5日（木）の3日間、東京理科大学神楽坂キャンパスにおいて日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会主催による第10回Ｘ線分析講習会「蛍光Ｘ線分析の実際」が開催されます。本講習会は、蛍光Ｘ線分析に関する総合的講習会で、2004年に開始されてから今回で10回目を数えます。
日立ハイテクサイエンスも初回より講師として参加しており、今回も講義と実習を担当いたします。蛍光Ｘ線分析法にご興味のある方、より深く蛍光Ｘ線分析装置を使いこなしたい方は是非ご参加ください。

開催概要

日時

2018年7月3日（火）～5日（木）
9:00～17:30

会場

東京理科大学1号館17階:記念講堂、大会議室
東京都新宿区神楽坂1-3
〔交通〕JR飯田橋下車徒歩4分

参加費

内容により異なりますので、下部リンクより日本分析化学会X線分析研究懇談会Webサイトをご覧ください。

定員

講義100名　実習80名（先着順受付）

主催

日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会

講習会概要

講習会概要
第1日講義 蛍光X線分析入門、測定装置の使い方、スペクトルの読み方、定量について講義します。
ブラックボックスとなりがちなFP法や良いデータを測定するためのコツなどが学べます。
第2日講義 試料調製のノウハウや各種試料への応用事例について講義します。
＜応用事例＞
X線分析顕微鏡、ハンドヘルドXRF、薄膜・メッキの膜厚測定、全反射蛍光X線分析、SEM-EDX、極微量分析、食品の蛍光X線分析、標準物質
第3日実習 実機を使用した実習を行います。
＜前半＞　FP法を理解するための実習（関数電卓が必要です）
＜後半＞　応用実習
エネルギー分散型蛍光X線分析、波長分散型蛍光X線分析、X線分析顕微鏡、薄膜・メッキの膜厚測定、ハンドヘルドXRF、全反射蛍光X線分析、マイクロビーム蛍光X線分析

お申し込み

詳細及びお申込みは日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会Webサイトをご覧ください。