2000年度作品「Cross sectional observation of the earth」
©（株）日立製作所 計測器グループ 橋本隆仁
©東北大学 本部 中塚勝人、東北大学 田路和幸
超能力を持つエイリアン、写真はそのエイリアンが攻撃目標に定めた地球の透視像。この観察の狙いは地球の弱点を見つけることに有ります。手前に見えるのは月。地球攻略のベースキャンプの場所を探しています。観察の目的に合わせ、異なった種類の像を同時にみる、エイリアンの能力を持ってすれば朝飯前のことです。地球危うし！
実はこの試料、Fe微粒子を各二層のTiO2およびSiO2で覆った高機能性ストラティファイド粒子です。手前の月に見えるのがそのSEM像、奥の地球に見えるのがFIB加工で作製した薄膜の断面STEM像で、どちらも200 kVで観察したものです。
2000年（第56回）日本電子顕微鏡学会
写真コンクール 出展作品
撮影条件
- 試料：ストラティファイド粒子（光干渉反射型着色磁性粒子）
- 測定装置：超薄膜評価装置 HD-2000
- 加速電圧：200 kV
試料ご提供：東北大学 本部 中塚勝人様、東北大学 田路和幸様
*: 作成者の所属情報は作成当時の情報です。
*: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
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