2003年度作品「栄光への脱出」
暗い洞窟をさまよった末に、遂に燦然と輝く光が目に！
さあ、栄光への脱出だ。
この洞窟の開口は、実はAFM（原子間力顕微鏡）に用いられるカンチレバープローブの中心部に、FIB（集束イオン加工観察装置）で加工したSNOM（走査型近接場光学顕微鏡）のレーザ光の出射/入射用開口です。このSNOMは、ナノテクノロジーなど先端技術分野において有用な解析手段として注目されています。
2003年（第59回）日本顕微鏡学会
写真コンクール 出展作品
撮影条件
- 試料：SNOMプローブのレーザ光入射開口
- 測定装置：電界放出形走査電子顕微鏡 S-4300
- 撮影倍率：50,000倍
- 加速電圧：5 kV
試料ご提供：東京大学 中尾研究室
*: 作成者の所属情報は作成当時の情報です。
*: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
*: 「nanoart」に掲載された写真、文章の無断転載を禁じます。
*: 「nanoart」は（株）日立ハイテクの日本国内における登録商標です。
