第4コース:「環境規制に関する分析手法 ~RoHS分析を中心に~」
2019年2月12日
日本分析化学会関東支部主催、第59回機器分析講習会開催のご案内です。
製品含有化学物質管理には環境規制物質の有無を特定し、その含有量を明らかにすることが重要です。近年はグローバル化する企業活動におけるRoHS指令などへの対応が求められており、迅速なスクリーニング分析と閾値を超えた場合の詳細分析という段階的な分析手法も定着しつつあります。その中で欧州RoHS指令の新たな規制物質となるフタル酸エステル類の分析手法についてはスクリーニング分析と詳細分析について焦点をあてた内容としました。本講習会ではこれらの分野の第一線の先生方の講義を受講していただくとともに,受講生が実際に数種の分析機器(ソックスレー溶媒抽出、マイクロ波分解、GC-MS、フタル酸エステル類検査装置、ICP発光分光分析、蛍光X線分析、分光分析)を体得できるような内容となっております。
2019年4月18日(木)~4月19日(金)
株式会社日立ハイテクサイエンス
サイエンスソリューションラボ東京
東京都中央区新富2-15-5 RBM築地ビル
TEL:03-6280-0068
日本分析化学会関東支部
40名
講義のみも可(定員になり次第締め切ります)
日本分析化学会 関東支部のホームページをご参照ください。
第1日 | <講義>10時00分~17時15分 <技術交流会>17時30分~19時00分 |
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第2日 | <実習>9時30分~16時30分 |
フタル酸エステル類のスクリーニング手法としては、固体試料を直接分析するPy/TD-GC-MSおよびフタル酸エステル類検査装置よる測定を行う。詳細分析についてはソッスクスレー溶媒抽出と、GC-MSの測定を行う。
固体試料を酸分解またはマイクロ波分解し、試料に含まれるCd,Pb,Cr,Hgの規制物質をICP発光分光分析する。Cr(Ⅵ)についてはクロムメッキ試料からCr(Ⅵ)を選択的に溶出させ、分光光度計を用いジフェニルカルバジド法で測定する。
蛍光X線分析法によるスクリーニング分析について実習し、規制物質の含有の有無を把握する。基礎的なデータの管理からマッピング分析、鉛フリーはんだや無電解ニッケルなどめっき皮膜中の規制物質測定などについての応用手法を行う。