AFM/CITS(AFM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)
AFM/CITS(AFM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)
AFM/CITSとは、AFM（原子間力顕微鏡）で形状観察をしながらI/Vカーブを各ポイントで測定しマッピングするSPM（走査型プローブ顕微鏡）測定モードの一種。AFM/電流同時測定の拡張機能で、導電性のカンチレバーを用いて測定する。任意のバイアス電圧レベルでの電流像の表示が可能。
AFM/CITSとは、AFM（原子間力顕微鏡）で形状観察をしながらI/Vカーブを各ポイントで測定しマッピングするSPM（走査型プローブ顕微鏡）測定モードの一種。AFM/電流同時測定の拡張機能で、導電性のカンチレバーを用いて測定する。任意のバイアス電圧レベルでの電流像の表示が可能。
