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STM/CITS (STM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)

STM/CITS (STM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)

STM/CITS とは、STM(走査型トンネル顕微鏡)で形状観察をしながらI/Vカーブを各ポイントで測定しマッピングする、SPM(走査型プローブ顕微鏡)測定モードの一種。STMの拡張機能である。任意のバイアス電圧レベルでの電流像の表示が可能。

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