ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)
  5. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM):原理解説
  6. 用語集
  7. MFM (Magnetic Force Microscope)

MFM (Magnetic Force Microscope)

MFM (磁気力顕微鏡:Magnetic Force Microscope)

MFM (磁気力顕微鏡)とは、磁性コートしたカンチレバーと試料の間に働く磁気力(磁気力勾配)を測定して、試料表面の漏れ磁界分布を画像化するSPM(走査型プローブ顕微鏡)の一種。

【特徴】

◆ハードディスクや磁気テープ等の記録状態の観察、磁性材料の磁区や磁壁の観察ができる。
◆真空中Q値制御(ActiveQ)と低モーメント探針を組み合わせることで高分解能化が可能。

関連情報

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
リストの一部はこちらからご覧いただけます。

S.I.navi

「S.I.navi」は、日立ハイテク取扱分析装置に関する会員制サイトです。
お客さまの知りたいこと、日々の業務に役立つ情報を「S.I.navi」がサポートします。

Semevolution

日立電子顕微鏡をご使用されているお客さまは、「S.I.navi」上で製品情報をご登録いただくと、日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」にて、さらに多くの関連情報をご覧いただけます。

お問い合わせ

関連コンテンツ