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走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）用語集 「A」～「Z」

A

ADD信号 (ADD Signal)
Adhesion
AFM (Atomic Force Microscope)
AFM/電流同時測定 (AFM/Current Imaging)
AFM/CITS(AFM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)

C

Cantilever
Cantilever Spring
Closed Loop Feedback
Coarse Positioning Mechanism
Creep

D

DIF Signal
Dynamic Force Mode/Microscope

E

EC-AFM (Electrochemical AFM)
EC-STM (Electrochemical STM)

F

FFM (Friction Force Microscope)
FFM Signal
Fine Positioning Mechanism
Force Curve: AFM
Force Curve: DFM

H

Hysteresis

K

KFM (Kelvin Probe Force Microscope)

L

Laser Light
Lead Titanate ZirconateLead Titanate Zirconate (PZT)
Linearize
LM-FFM (Lateral Force Modulation Friction Force Microscope)

M

MFM (Magnetic Force Microscope)

N

Nano Indentation

O

Optical Lever Method

P

Phase Mode
Photodetector
Piezoelectric Device
PRM (Piezo-Response Microscope)
Probe
PZT (Lead Titanate ZirconateLead Titanate Zirconate)

R

Raster Scan
Ringing

S

SMM (Scanning Maxwell-stress Microscope)
SNDM (Scanning Nonlinear Dielectric Microscope)
SNOAM (Scanning Near Field Optical/Atomic Force Microscope)
SNOM (Scanning Near Field Optical Microscope)
SPM (Scanning Probe Microscope)
SSRM (Scanning Spread Resistance Microscope)
STM (Scanning Tunneling Microscope)
STM/CITS (STM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)

T

Temperature Sweep
Temperature Sweep Mapping
Tip
Trace
Tube Scanner
Tunnel Current

V

VE-AFM (Viscoelastic AFM)
VE-DFM (Viscoelastic DFM)
Vector Scan

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