ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
  5. AFMデータギャラリー

AFMデータギャラリー

ジャンル別：

有機・高分子 無機材料 生体 半導体・エレクトロニクス マグネティックス ストレージ その他

有機・高分子

-

[No.2] 処理された髪の表面の違い

-

[No.12] 射出成形品歪み

-

[No.13] ポリプリピレンブロックコポリマーの温度制御下での粘弾性分布

-

[No.18] ポリプリピレンブロックコポリマーの位相測定

-

[No.19] SISモードの紹介

-

[No.27] 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御による粘弾性変化

-

[No.32]AFMスクラッチ加工

-

[No.35]マイクロレンズの高精度立体計測

-

[No.36]ナノインプリント転写条件の評価

-

[No.45] ポリ袋表面観察と粗さ評価

-

[No.46] メンディングテープ表面観察と粗さ評価

無機材料

-

[No.1] 隕石中の磁性物質のＭＦＭ観察

-

[No.5] シリコーン処理電子線高価フィルムの表面加工

-

[No.8] LCDカラーフィルター

-

[No.9] 水晶振動子電極部膜厚／めっき表面粗さ

-

[No.10] Sn-Cuめっき

-

[No.11] ボールベアリング外輪レース面

-

[No.15] 陽極酸化によるパターン形成

-

[No.17] 高分解能MFMによる高密度記録媒体の観察

-

[No.19] SISモードの紹介

-

[No.21] Conductive AFMによる相変化ディスク記録マークの観察

-

[No.25] DVD-RAMの記録マークのKFM観察

-

[No.4] 強誘電体薄膜への記録再生

-

[No.27] 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御による粘弾性変化

-

[No.32]AFMスクラッチ加工

-

[No.35]マイクロレンズの高精度立体計測

-

[No.38] PZT薄膜表面観察と粗さ評価

-

[No.39] Siウェハ表面処理前後での表面観察と粗さ評価

-

[No.40] ビニール袋表面観察と粗さ評価

-

[No.41] レンズ表面コートの観察と粗さ評価

-

[No.42] 水晶ウェハ表面観察と粗さ評価

-

[No.44] ITO薄膜表面観察と粗さ評価

生体

-

[No.2] 処理された髪の表面の違い

半導体・エレクトロニクス

-

[No.4] 強誘電体薄膜への記録再生

-

[No.8] LCDカラーフィルター

-

[No.9] 水晶振動子電極部膜厚/めっき表面粗さ

-

[No.15] 陽極酸化によるパターン形成

-

[No.17] 高分解能MFMによる高密度記録媒体の観察

-

[No.19] SISモードの紹介

-

[No.21] Conductive AFMによる相変化ディスク記録マークの観察

-

[No.22] 六角格子ネットワークの磁化構造

-

[No.24] 束縛のない単一磁壁の高分解能MFM観察

-

[No.25] DVD-RAMの記録マークのKFM観察

-

[No.35]マイクロレンズの高精度立体計測

-

[No.37]微小ハイアスペクト形状の評価

-

[No.39] Siウェハ表面処理前後での表面観察と粗さ評価

-

[No.40] ビニール袋表面観察と粗さ評価

-

[No.43] アルミ薄膜表面観察と粗さ評価

-

[No.47] AlSi薄膜表面観察と粗さ評価

-

[No.48] ニオブ薄膜表面観察と粗さ評価

マグネティックス

-

[No.1] 隕石中の磁性物質のＭＦＭ観察

-

[No.16] GMRヘッドのMFM観察

-

[No.17] 高分解能MFMによる高密度記録媒体の観察

-

[No.20] GMRヘッドのMFM観察（2）

-

[No.22] 六角格子ネットワークの磁化構造

-

[No.23] 磁壁の質量観測

-

[No.24] 束縛のない単一磁壁の高分解能MFM観察

-

[No.26] CoPtドットの保磁力マッピング

-

[No.28] Y字型パーマロイ規則配列のMFM観察(1)

-

[No.29] Y字型パーマロイ規則配列のMFM観察(2)

-

[No.30] 磁気テープのMFM観察

-

[No.31]フェリ磁性の磁束反転を温度制御MFMで観測

-

[No.33]MFM探針による磁壁操作

-

[No.34]面内回転磁場印加による磁壁移動

-

[No.49]電気自動車用永久磁石の高温磁区観察

ストレージ

-

[No.16] GMRヘッドのMFM観察

-

[No.20] GMRヘッドのMFM観察（2）

-

[No.21] Conductive AFMによる相変化ディスク記録マークの観察

-

[No.25] DVD-RAMの記録マークのKFM観察

-

[No.26] CoPtドットの保磁力マッピング

-

[No.31]フェリ磁性の磁束反転を温度制御MFMで観測

-

[No.33]MFM探針による磁壁操作

-

[No.34]面内回転磁場印加による磁壁移動

その他

-

[No.11] ボールベアリング外輪レース面

関連リンク

アプリケーションデータ
お役立ち情報
展示会・セミナー

関連情報

会員制サービス

お問い合わせ

お問い合わせ
一つ上のページに戻る
ページ先頭へ

関連コンテンツ

日立ハイテク

日立ハイテクトップ

製品ソリューション

技術情報

サポート情報

ニュース・イベント

企業情報

採用情報