ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)
  5. AFMデータギャラリー
  6. 束縛のない単一磁壁の高分解能MFM観察

束縛のない単一磁壁の高分解能MFM観察

-          
慶応義塾大学 宮島研究室・齊藤研究室 、
日立ハイテクサイエンスの共同研究
ジャンル マグネティックス, 半導体・エレクトロニクス
モード MFM
測定領域 約3µm
ステーション AFM5000
装置 AFM5300E

解説

-

Fig.1は、幅70nm、半径50μmのパーマロイ半円細線に束縛のない単一磁壁を導入する方法です。Fig.2は、半円細線全体の磁化状態、および単一磁壁と細線両端の磁極がつくる磁界の様子を表しています。(1)、(2)

Fig.3(a)は高モーメント探針による細線中央付近のMFM観察結果です。磁壁が探針の磁界によりマニピュレートされ、画面上から下への走査で、磁壁が動かされている様子です。 Fig.3(b)は低モーメント探針による高分解能MFMの観察結果です。束縛のない単一磁壁が安定に観測されています。(2) ともに AFM5000の新機能<形状像と物性像の重ね合わせ>を使った画像です。モノトーンの形状像にカラーでグラデーションをつけた磁気像を重ねています。

慶応義塾大学、 大阪大学(現:首都大学東京)、日立ハイテクサイエンスの共同研究です。

関連文献:

STM’05発表ポスター

関連リンク

関連情報

お問い合わせ

関連コンテンツ