ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)
  5. AFMデータギャラリー
  6. GMRヘッドのMFM観察

GMRヘッドのMFM観察

-
株式会社日立ハイテクサイエンス
ジャンル ストレージ, マグネティックス
モード MFM
測定領域 約9µm
ステーション AFM5000
装置 AFM5400L

解説

-

MFMは試料表面の漏れ磁界分布を画像化するSPM(走査型プローブ顕微鏡)のひとつです。磁性コート探針と磁性体試料に作用する磁気力(勾配) を画像化しています。従来からある磁区観察法に比べて、大気中で高分解能な磁区観察を、試料の表面形状観察と同時に行えるのが特徴です。Fig.1のような 磁気ヘッド等の測定では、記録ポールやシールド層などの磁性体部分が明るく、非磁性部分が暗く表示されます。磁性体部分には縞状あるいは幾何学的な模様 (磁区)が観察されています。 Fig.2はAFM5000の機能<形状像と物性像の重ね合わせ> を使った画像です。形状の特徴と磁気特性を1つの画像で見ることができるようになりました。

引用文献:

関連情報

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
リストの一部はこちらからご覧いただけます。

S.I.navi

「S.I.navi」は、日立ハイテク取扱分析装置に関する会員制サイトです。
お客さまの知りたいこと、日々の業務に役立つ情報を「S.I.navi」がサポートします。

Semevolution

日立電子顕微鏡をご使用されているお客さまは、「S.I.navi」上で製品情報をご登録いただくと、日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」にて、さらに多くの関連情報をご覧いただけます。

お問い合わせ

関連コンテンツ